思貝達(dá)濾光片光學(xué)鍍膜濾光片檢測(cè)


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    一般情況下,薄膜制備工藝決定了薄膜都具有柱狀的微結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)使薄膜內(nèi)部存在一定空隙,并造成薄膜器件光學(xué)特性和機(jī)械特性的不穩(wěn)定,因此對(duì)某些在特殊環(huán)境下使用的薄膜必須進(jìn)行各種環(huán)境試驗(yàn)。

    1.恒溫恒濕試驗(yàn)。它是較常規(guī)的環(huán)境試驗(yàn)。一般在相對(duì)濕度95%,溫度為55度的環(huán)境下存放6-24小時(shí);或在40度以下存放10天;或在室溫至80度的環(huán)境下做多次循環(huán)試驗(yàn),然后檢測(cè)薄膜樣品在試驗(yàn)前后的膜層的機(jī)械和光學(xué)特性的變化。例如:對(duì)于要求較高的窄帶濾光片,就要進(jìn)行恒溫恒濕試驗(yàn),然后測(cè)試其透射率峰值的位置變化及峰值大小的變化。

    2.液體浸蝕。一般是在室溫下將薄膜樣品浸泡在每升含45g鹽的溶液中,或根據(jù)用戶(hù)要求在稀釋的酸或堿溶液中浸泡6-24小時(shí),試驗(yàn)后測(cè)試薄膜的光學(xué)特性和機(jī)械特性,并與試驗(yàn)前測(cè)的數(shù)值進(jìn)行比較。

    3.溫度試驗(yàn)測(cè)試。薄膜的熱膨脹系數(shù)一般比基底的熱膨脹系數(shù)大一個(gè)數(shù)量級(jí),加之膜層存在的內(nèi)應(yīng)力,從而在高溫度情況下,使膜層與膜層之間可能形成位錯(cuò),因此薄膜在高溫度下使用時(shí),必須經(jīng)過(guò)烘烤試驗(yàn)。

    4.耐冷及耐輻射等特殊的環(huán)境試驗(yàn)。對(duì)于某些特殊應(yīng)用的薄膜器件,還是根據(jù)實(shí)際使用要求進(jìn)行各種環(huán)境試驗(yàn)。如在太空中應(yīng)用的薄膜器件,環(huán)境溫度的變化非常大,因此在溫度試驗(yàn)中一般要求溫度的變化范圍很大:-40度-80度。此外由于宇宙中各種高能射線(xiàn)的輻照,也會(huì)減低光學(xué)薄膜器件的使用壽命。為了正確估算在太空中應(yīng)用的光學(xué)薄膜器件的壽命,必須對(duì)光學(xué)薄膜器件進(jìn)行輻照試驗(yàn)。


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  • 思貝達(dá)濾光片光學(xué)鍍膜濾光片檢測(cè)

    鍍膜的環(huán)境試驗(yàn) 一般情況下,薄膜制備工藝決定了薄膜都具有柱狀的微結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)使薄膜內(nèi)部存在一定空隙,并造成薄膜器件光學(xué)特性和機(jī)械特性的不穩(wěn)定,因此對(duì)某些在特殊環(huán)境下使用的薄膜必須進(jìn)行各種環(huán)境試驗(yàn)。 1.恒溫恒濕試驗(yàn)。它是較常規(guī)的環(huán)境試驗(yàn)。一般在相對(duì)濕度95%,溫度為55度的環(huán)境下存放6-24小時(shí);或在40度以下存放10天;或在室溫至80度的環(huán)境下做多次循環(huán)試驗(yàn),然后檢測(cè)薄膜樣品在試驗(yàn)前后的膜層的

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