高低溫低氣壓試驗箱/低氣壓試驗箱
型號*1 | AZVAT(H)150U | AZVAT(H)500U | AZVAT(H)1000U | |
電源 | 交流380V 50赫茲 3相+N+PE | |||
較大電流 | 21/21 | 30/37 | 33/40 | |
最大功率 | 9.5/11 | 16.5/18 | 18/21 | |
使用環(huán)境溫/濕度 | +15~+35℃/≤85%RH | |||
控制方式 | 獨立的冷端和熱端PID調(diào)節(jié),熱量和冷量均可連續(xù)調(diào)節(jié) | |||
性能*3 | 溫度范圍 | -70℃~+100℃*4 | ||
濕度范圍 | +15℃~+85℃ 20%~95%RH | |||
露點溫度范圍 | +4℃~+84℃ | |||
溫度波動度 | ≤±0.5℃ | |||
溫度均勻性 | ≤2℃ | |||
溫度偏差 | ≤±2℃ | |||
濕度偏差 | ≤±3%RH | |||
升溫速率*2 | 2.5℃/min | 2.5℃/min | 2℃/min | |
降溫速率*2 | 1.8℃/min | 1.8℃/min | 2℃/min | |
壓力范圍 | 1Bar ~ 10 mBar | |||
壓力波動度 |
≤±2Kpa(100KPa~40KPa ) ≤±5%(40KPa~2KPa) ≤0.1KPa(≤2KPa) |
|||
從大氣壓到10mBar的抽空時間 | 15分鐘以內(nèi) | 24分鐘以內(nèi) | 30分鐘以內(nèi) | |
觀察窗 | 多層導電膜加熱觀察窗,尺寸W300mmxH300mm | |||
控制器 | AZ-1000控制儀表集成西門子S7可編程控制器 | |||
冷凝方式 | 水冷冷凝器 | |||
外部加濕供水方式 | 水箱蓄水,手動補水,或者自來水直接補水 | |||
加濕水利用方式 | 配備多級純水裝置,加濕水循環(huán)利用,降低加濕水消耗量 | |||
內(nèi)容積 (升) | 150 | 544 | 1040 | |
內(nèi)尺寸 | W(mm) | 600 | 800 | 1010 |
D(mm) | 500 | 800 | 1010 | |
H(mm) | 500 | 850 | 1020 | |
外尺寸 | W(mm) | 960 | 1200 | 1430 |
D(mm) | 2640 | 2885 | 3455 | |
H(mm) | 1900 | 2490 | 2290 | |
標準配置 |
● 電纜孔帶盲板Φ50mmx1 ● 內(nèi)部照明 ● 一層隔板 ● 風冷冷凝方式 ● USB接口及歷史數(shù)據(jù)回放及轉(zhuǎn)換軟件 |
|||
可選配置 |
○ 電纜孔帶盲板Φ50mm,Φ100mm ○ 額外的隔板 ○ 水冷冷凝方式 ○ 外部插座 220V 10A ○ LAN接口及遠程控制軟件 ○ 氣壓**30KPa條件下溫度控制(-70℃~+80℃) ○ 遠程集中控制軟件 ○ 數(shù)字量輸入報警接口x4 ○ 數(shù)字量輸出繼電器接口x4 (試驗品用) ○ 額外模擬量采集通道x4 數(shù)據(jù)可在控制器上儲存回放(PT100,T型熱電偶,4~20mA,0~10V, -10V~10V可選) ○ 額外模擬量采集通道x8 數(shù)據(jù)可在控制器上儲存回放(PT100,T型熱電偶,4~20mA,0~10V, -10V~10V可選) ○ 模擬量輸出通道x6 (設(shè)定溫度,設(shè)定濕度,設(shè)定壓力,采樣溫度,采樣濕度,采樣壓力) ○ 外部模擬量控制溫濕度壓力 (4~20mA,0~10V, -10V~10V可選) ○ 干燥新風補償 ○ 試品溫度控制 |
|||
*1: AZVAT型的無濕度控制功能 | ||||
*2: 較高溫度與較低溫度之間的平均速率(無負載,無散熱,參考IEC60068-3-5) | ||||
*3: 性能指標在室溫為+25℃時測定;傳感器處于空氣處理單元出風口; | ||||
*4: 箱內(nèi)壓力**30KPa時,箱內(nèi)溫度可控; |
詞條
詞條說明
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芯片(chip),又稱微芯片(microchip),是集成電路的載體。一般而言,芯片(IC)泛指所有的半導體元器件,是在硅板上集合多種電子元器件實現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分,承擔著運算和存儲的功能。?????溫度的改變對半導體的導電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當溫度過高時元器件體積發(fā)生
高低溫試驗箱可以用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時的適應(yīng)性試驗,以及溫度漸變試驗,除此之外還可以對電子元器件進行應(yīng)力篩選試驗。那么高低溫試驗箱在進行測試前都有準備工作呢?高低溫試驗箱測試前的準備工作:1、確定高低溫試驗所依據(jù)的檢測標準,若沒有標準可依據(jù),可以依據(jù)相關(guān)的產(chǎn)品規(guī)范要求。2、確定高低溫試驗的程序以及測試的條件,溫度點,試驗時間等。3、確定高低溫試驗
熱風循環(huán)烘箱的溫度均勻性標準通常取決于具體的行業(yè)標準、產(chǎn)品要求或生產(chǎn)工藝。以下是一般情況下用于評估溫度均勻性的常見標準:溫度偏差:溫度偏差是指烘箱內(nèi)不同位置的溫度之間的差異。常見的標準是溫度偏差在±2°C以內(nèi)。熱風循環(huán)烘箱溫度均勻性標準熱風循環(huán)烘箱溫度均勻性標準熱風循環(huán)烘箱溫度均勻性標準溫度穩(wěn)定性:溫度穩(wěn)定性是指烘箱內(nèi)溫度在設(shè)定值附近的波動程度。常見的標準是溫度波動范圍在±1°C以內(nèi)。溫度梯度:溫
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