高低溫低氣壓試驗箱/低氣壓試驗箱

    高低溫低氣壓試驗箱/低氣壓試驗箱

    型號*1 AZVAT(H)150U AZVAT(H)500U AZVAT(H)1000U
    電源 交流380V 50赫茲 3相+N+PE
    較大電流 21/21 30/37 33/40
    最大功率 9.5/11 16.5/18 18/21
    使用環(huán)境溫/濕度 +15~+35℃/≤85%RH
    控制方式 獨立的冷端和熱端PID調(diào)節(jié),熱量和冷量均可連續(xù)調(diào)節(jié)
    性能*3 溫度范圍 -70℃~+100℃*4
    濕度范圍 +15℃~+85℃ 20%~95%RH
    露點溫度范圍 +4℃~+84℃
    溫度波動度 ≤±0.5℃
    溫度均勻性 ≤2℃
    溫度偏差 ≤±2℃
    濕度偏差 ≤±3%RH
    升溫速率*2 2.5℃/min 2.5℃/min 2℃/min
    降溫速率*2 1.8℃/min 1.8℃/min 2℃/min
    壓力范圍 1Bar ~ 10 mBar
    壓力波動度 ≤±2Kpa(100KPa~40KPa )
    ≤±5%(40KPa~2KPa)
    ≤0.1KPa(≤2KPa)
    從大氣壓到10mBar的抽空時間 15分鐘以內(nèi) 24分鐘以內(nèi) 30分鐘以內(nèi)
    觀察窗 多層導電膜加熱觀察窗,尺寸W300mmxH300mm
    控制器 AZ-1000控制儀表集成西門子S7可編程控制器
    冷凝方式 水冷冷凝器
    外部加濕供水方式 水箱蓄水,手動補水,或者自來水直接補水
    加濕水利用方式 配備多級純水裝置,加濕水循環(huán)利用,降低加濕水消耗量
    內(nèi)容積 (升) 150 544 1040
    內(nèi)尺寸 W(mm) 600 800 1010
    D(mm) 500 800 1010
    H(mm) 500 850 1020
    外尺寸 W(mm) 960 1200 1430
    D(mm) 2640 2885 3455
    H(mm) 1900 2490 2290
    標準配置 ● 電纜孔帶盲板Φ50mmx1
    ● 內(nèi)部照明
    ● 一層隔板
    ● 風冷冷凝方式
    ● USB接口及歷史數(shù)據(jù)回放及轉(zhuǎn)換軟件
    可選配置 ○ 電纜孔帶盲板Φ50mm,Φ100mm
    ○ 額外的隔板
    ○ 水冷冷凝方式
    ○ 外部插座 220V 10A
    ○ LAN接口及遠程控制軟件
    ○ 氣壓**30KPa條件下溫度控制(-70℃~+80℃)
    ○ 遠程集中控制軟件
    ○ 數(shù)字量輸入報警接口x4
    ○ 數(shù)字量輸出繼電器接口x4 (試驗品用)
    ○ 額外模擬量采集通道x4 數(shù)據(jù)可在控制器上儲存回放(PT100,T型熱電偶,4~20mA,0~10V, -10V~10V可選)
    ○ 額外模擬量采集通道x8 數(shù)據(jù)可在控制器上儲存回放(PT100,T型熱電偶,4~20mA,0~10V, -10V~10V可選)
    ○ 模擬量輸出通道x6 (設(shè)定溫度,設(shè)定濕度,設(shè)定壓力,采樣溫度,采樣濕度,采樣壓力)
    ○ 外部模擬量控制溫濕度壓力 (4~20mA,0~10V, -10V~10V可選)
    ○ 干燥新風補償
    ○ 試品溫度控制
    *1: AZVAT型的無濕度控制功能
    *2: 較高溫度與較低溫度之間的平均速率(無負載,無散熱,參考IEC60068-3-5)
    *3: 性能指標在室溫為+25℃時測定;傳感器處于空氣處理單元出風口;
    *4: 箱內(nèi)壓力**30KPa時,箱內(nèi)溫度可控;


     宏展擁有專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)的科研機構(gòu),具備成熟的環(huán)試研制手段與試驗室,聚集了行業(yè)內(nèi)一批優(yōu)秀的各類人才和***,強大的研發(fā)團隊**著國內(nèi)環(huán)試技術(shù)發(fā)展方向.現(xiàn)目前,公司具有自主知識產(chǎn)權(quán)的環(huán)境試驗設(shè)備,可靠性試驗設(shè)備,高低溫試驗箱,高低溫濕熱試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度變化試驗箱,冷熱沖擊試驗箱,三綜合試驗箱,高低溫低氣壓試驗箱,太陽輻射試驗箱,工業(yè)烤箱,冷熱沖擊試驗箱,步入式恒溫恒濕試驗室,環(huán)境應(yīng)力篩選試驗箱,步入式恒溫恒濕試驗室,高低溫沖擊試驗箱,恒溫恒濕試驗機,恒溫恒濕試驗箱, 太陽輻射試驗箱,高低溫濕熱試驗箱,調(diào)溫調(diào)濕箱,紫外光加速老化試驗機,紫外線加速耐候試驗機,步入式試驗室,步入式環(huán)境試驗室, 步入式高低溫試驗室,調(diào)溫調(diào)濕試驗箱,紫外光耐氣候試驗箱,紫外老化測試儀,高低溫低氣壓試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱,步入式恒溫恒濕試驗室,步入式高低溫濕熱試驗室,精密烘箱,精密烘箱,可程式恒溫恒濕試驗箱,可程式恒溫恒濕試驗機,氙燈老化試驗箱,高低溫交變濕熱試驗箱,恒溫恒濕箱以及步入式高低溫濕熱試驗箱和高風速淋雨試驗箱等氣候環(huán)境試驗設(shè)備及訂制產(chǎn)品處于國內(nèi)良好、***水準。歡迎廣大新老客戶來函來電咨詢,我們將竭誠為您服務(wù)!
    廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

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    詞條說明

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    環(huán)境試驗與環(huán)境試驗設(shè)備相關(guān)其他(基礎(chǔ))標準目錄 1.GB11605-89????? 濕度測量方法 2.GB191-2000????? 包裝儲運 圖示標志 3.GB6999-86?????? 環(huán)境試驗用相對濕度查算表 4.GB7248-87&

  • 冷熱沖擊試驗箱可用于半導體芯片的測試

    芯片(chip),又稱微芯片(microchip),是集成電路的載體。一般而言,芯片(IC)泛指所有的半導體元器件,是在硅板上集合多種電子元器件實現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分,承擔著運算和存儲的功能。?????溫度的改變對半導體的導電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當溫度過高時元器件體積發(fā)生

  • 高低溫試驗箱測試前的準備工作

    高低溫試驗箱可以用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時的適應(yīng)性試驗,以及溫度漸變試驗,除此之外還可以對電子元器件進行應(yīng)力篩選試驗。那么高低溫試驗箱在進行測試前都有準備工作呢?高低溫試驗箱測試前的準備工作:1、確定高低溫試驗所依據(jù)的檢測標準,若沒有標準可依據(jù),可以依據(jù)相關(guān)的產(chǎn)品規(guī)范要求。2、確定高低溫試驗的程序以及測試的條件,溫度點,試驗時間等。3、確定高低溫試驗

  • 熱風循環(huán)烘箱溫度均勻性標準

    熱風循環(huán)烘箱的溫度均勻性標準通常取決于具體的行業(yè)標準、產(chǎn)品要求或生產(chǎn)工藝。以下是一般情況下用于評估溫度均勻性的常見標準:溫度偏差:溫度偏差是指烘箱內(nèi)不同位置的溫度之間的差異。常見的標準是溫度偏差在±2°C以內(nèi)。熱風循環(huán)烘箱溫度均勻性標準熱風循環(huán)烘箱溫度均勻性標準熱風循環(huán)烘箱溫度均勻性標準溫度穩(wěn)定性:溫度穩(wěn)定性是指烘箱內(nèi)溫度在設(shè)定值附近的波動程度。常見的標準是溫度波動范圍在±1°C以內(nèi)。溫度梯度:溫

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