為了檢驗衛(wèi)星各子系統(tǒng)的電性能并消除其相互的干擾, 需對衛(wèi)星上廣泛使用的半導體器件進行老化試驗處理, 后來又出現(xiàn)了熱應力篩選試驗。所謂熱應力篩選試驗, 就是在常溫、常壓下進行熱循環(huán)試驗, 將潛在的失效通過加大熱應力的辦法將其顯現(xiàn)出來并加以消除, 使器件的失效進入穩(wěn)定過渡期, 最后在壽命終比前又出現(xiàn)失效高發(fā)期。這樣就形成了一浴盆曲線, 即早期和晚期是事故高發(fā)期, 中期是事故低發(fā)期。通過熱應力篩選試驗可以大大提高電子器件的可靠性, 從而提高衛(wèi)星的可靠性。從衛(wèi)星發(fā)生的事故來看, 發(fā)現(xiàn)大致上遵循浴盆曲線, 但中期階段并不是一直線, 而是一向下傾斜的有起伏的駝峰曲線, 其形成機制至今未有圓滿解釋。我們認為這是因為衛(wèi)星處于失重的熱真空環(huán)境中, 換熱居主導地位的是熱輻射而非熱對流, 并且是在微重力環(huán)境下, 很*造成局部過熱而引發(fā)事故。所以, 衛(wèi)星在做了常溫常壓下的熱循環(huán)試驗之后, 還必須作熱真空環(huán)境下的熱循環(huán)試驗。試驗次數(shù)由原來的次減至現(xiàn)在的次, 這樣既節(jié)省了試驗費用, 也達到了提高衛(wèi)星可靠性的目的。
為了檢驗衛(wèi)星通過溫控措施后的效果, 必須通過熱平衡試驗的考驗。由于衛(wèi)星的換熱主要是通過熱輻射的方式, 熱真空平衡試驗時間長、費用高, 對研制周期的影響也大。能否找到一個簡單的辦法, 只通過較短時間的試驗數(shù)據(jù)就預報出它的平衡溫度來呢對此, 我們認為衛(wèi)星的平衡溫度點就是指此點的溫度不隨時間變化, 其時間變化率為零。因此在預測時將微分項等于零, 就成了解非線性代數(shù)方程, 則可求出平衡溫度。根據(jù)協(xié)同論, 在眾多相互有關的子系統(tǒng)中起支配作用的是慢系統(tǒng)。由于起基礎作用的是輻射項, 它是慢系統(tǒng), 而傳導項是快系統(tǒng), 僅在系統(tǒng)初期有點作用, 因此在方程中可將傳導項去掉, 方程的基本解是反正切函數(shù)。這樣可通過控制論的系統(tǒng)辨識的方法,測出此種函數(shù)的基本參數(shù), 從而可預示出它的平衡溫度。當然還可用求微分方程拐點的辦法找到轉(zhuǎn)換溫度點, 然后求平衡溫度。這樣可以達到減少試驗時間、降低試驗費用、縮短研制周期的目的。
詞條
詞條說明
? 1、結構采用無夾套、組合式的設計思路,具有簡潔的外觀,理想的拼裝方式,緊湊的箱體結構,維修使用較為方便。 ? 2、外殼采用冷軋薄鋼板,表面噴塑處理,美觀大方,經(jīng)久耐用。內(nèi)膽工作室采用了不銹鋼板,內(nèi)表面平整、清潔。工作室右側配有循環(huán)裝置、加熱器、制冷蒸發(fā)器等部件,**部配有一對鼓風電機,使冷熱空氣循環(huán)進出工作室,以保證工作室溫度要求。 ? 3、內(nèi)外門密封條采用硅橡膠材
實驗室烘箱是實驗室中一種重要的設備,用于對樣品進行干燥、加熱等處理。正確使用實驗室烘箱對于保證實驗結果的準確性、避免安全事故都至關重要。本文將詳細介紹實驗室烘箱的使用方法及注意事項。一、實驗室烘箱的使用方法(一)準備在使用實驗室烘箱之前,需要**行準備工作。首先,要確保烘箱的外部環(huán)境干燥清潔,避免潮濕的環(huán)境對烘箱的影響。其次,要將烘箱內(nèi)部清潔干凈,以免樣品污染。Z后,要檢查烘箱的電源連接是否正常,
寬溫工業(yè)平板電腦高低溫環(huán)境測試方法及標準
很多工業(yè)控制場景下,對工控平板電腦、工控一體機、觸摸屏的環(huán)境適應性,特別是溫度的適應性要求較高。那么今天給大家介紹一下工業(yè)平板電腦、工控一體機等的高低溫環(huán)境測試方法及標準:1、高溫運行測試(1)測試前先對整機基本功能進行測試,檢查外觀結構正常。研 維工程師按照MIL-STD-810G方法501.5高溫過程,整機處于工作狀態(tài),以正常位置放入試驗箱內(nèi),溫度設置60℃,連接適配器跑本地1080P視頻運行
高低溫試驗箱溫度達不到設定值原因以及解決方案: 1.高低溫試驗箱設定的溫度達不到有可能是換電加濕管壞了??梢韵嚷?lián)系廠家上門維修或較直接更換新的高低溫試驗箱。高溫試驗中如溫度變化達不到設置度值時,可以檢查電器系統(tǒng),逐一排查故障。 2、也有可能是溫度探頭壞了,造成在水溫**設定溫度也就是37度時設備不工作。 3、溫度采集系統(tǒng)延遲時間太長或者加溫管老化及損壞,造成實際水溫**37度時,設備還沒有工作,或
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