膜厚儀相關(guān)知識(shí)介紹

時(shí)間：2019-08-20作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：445

磁感應(yīng)測(cè)量原理

采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。一些電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用**設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。
磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

電渦流測(cè)量原理

高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類(lèi)測(cè)頭專(zhuān)門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱(chēng)之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。
采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類(lèi)任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。

XRD

簡(jiǎn)單地說(shuō)螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有所不同。螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息。
X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
具體地說(shuō),比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD）為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。
膜厚儀也叫X射線測(cè)厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。

膜厚儀的使用

測(cè)定準(zhǔn)備

（1）確保電池正負(fù)極方向正確無(wú)誤后設(shè)定。
（2）探頭的選擇和設(shè)定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類(lèi)型。對(duì)準(zhǔn)測(cè)定對(duì)象，在本體上進(jìn)行設(shè)定。

測(cè)定方法

（1）探頭的選擇和安裝方法：確認(rèn)電源處于OFF狀態(tài)，與測(cè)定對(duì)象的質(zhì)地材質(zhì)接觸，安裝LEP-J或LHP-J。
（2）調(diào)整：確認(rèn)測(cè)定對(duì)象已經(jīng)被調(diào)整。未調(diào)整時(shí)要進(jìn)行調(diào)整。
（3）測(cè)定：在探頭的末端加一定的負(fù)荷，即使用[一點(diǎn)接觸定壓式]。抓住與測(cè)定部接近的部分，*在與測(cè)定面成垂直的角度按下。下述的測(cè)定，每次都要從探頭的**測(cè)定面開(kāi)始離開(kāi)10mm以上。使用管狀的東西連續(xù)測(cè)定平面時(shí)，如果采用探頭適配器，可以較加穩(wěn)定地進(jìn)行測(cè)定。

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• ROHS檢測(cè)儀性能

  半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷自動(dòng)濾光片選擇多種準(zhǔn)直器自動(dòng)自由切換三重安全保護(hù)模式相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型多變量非線性回歸程序樣品腔自動(dòng)開(kāi)關(guān)軟件定位樣品平臺(tái)，較小位移 0.01 mm自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，分別針對(duì)不同樣品特別開(kāi)發(fā)測(cè)量軟件，操作界面十分友好內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時(shí)檢測(cè)樣品高貴時(shí)尚的外型，帶給您全新的視覺(jué)沖擊精準(zhǔn)的自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，較精確方便地調(diào)節(jié)樣品位置采用天瑞儀器**產(chǎn)品

• 部分客戶2

• 煙氣重金屬在線分析儀

  產(chǎn)品說(shuō)明、技術(shù)參數(shù)及配置CEMS-X100是天瑞儀器20多年X射線熒光（XRF）研發(fā)制造經(jīng)驗(yàn)的結(jié)晶。儀器結(jié)合煙氣顆粒物稀釋采樣技術(shù)和等速采樣技術(shù)，將煙氣中水分和溫度降至一定溫度后，顆粒物自動(dòng)富集在卷狀濾膜上，采用高度集成**探測(cè)器和X射線熒光數(shù)字多道分析技術(shù)檢測(cè)重金屬顆粒物在X射線激發(fā)下產(chǎn)生的X熒光強(qiáng)度，通過(guò)信號(hào)強(qiáng)度和體積換算精確計(jì)算煙氣顆粒物中重金屬的濃度。實(shí)現(xiàn)煙氣中鉛、汞、鎘、鉻、砷等幾十種重

• RoHS檢測(cè)儀之XRF的原理詳解及采購(gòu)建議

  X射線定義：l X射線是一種波長(zhǎng)較短的電磁輻射,通常是指能量范圍在0.1-100KeV的光子.X射線與物質(zhì)的相互作用主要有熒光.吸收.散射三種。X射線的熒光物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生特征輻射,通過(guò)測(cè)量和分析樣品產(chǎn)生的X射線熒光,即可獲得樣品中的元素組成,得到物質(zhì)成分的定性和定量信息.l X射線光譜儀通?？煞譃閮纱箢?lèi):波長(zhǎng)色散(WDXRF)和能量色散(EDXRF)X射線熒光光譜儀.l X射線熒光分析技術(shù)的