根據 AMS 2644的規(guī)范要求,每批磁通的滲透劑都經過了較佳可去除性測試,可去除性測試也是列入QPL AMS 2644認證的必要性能測試之一。
可去除性是衡量滲透劑在檢測過程中從零件表面去除的難易程度,從而產生較少的殘留熒光背景。在施用滲透劑并滲透后,必須從零件表面去除滲透劑,以確保在零件表面上保留相對較低的熒光背景。較低的背景可產生較高的對比度的缺陷指示,從而產生較高質量的檢測,降低操作員的疲勞。
如何確定可去除性?
可去除性是基于ASTM E1417標準對滲透劑的在役測試,以將使用中的產品與新鮮的新材料進行比較,并確保使用中的材料仍然符合預期。磁通對每個批次的滲透劑都進行測試,以確保運往客戶的產品具有較佳的可去除性。測試可去除性的過程包括施加滲透劑,在允許*的時間內滲透,然后根據相關滲透劑方法的要求沖洗或去除。
將去除后產生的背景熒光與現(xiàn)有標準或規(guī)范進行比較,以確定可去除性水平:較低的背景熒光表示較好的可去除性,而較高的背景熒光表示較差的可去除性。這兩個因素,可去除性和背景,是相輔相成的,并且是反向相關的。
請注意,在可去除性方面,并非所有工件都是平等的,即使使用相同的滲透劑也是如此。較粗糙的鑄件通常會使?jié)B透劑較難去除,并導致較高的背景,特別是對于較高靈敏度的滲透劑。相反,當所有其他變量保持不變時,光滑且高完成度的零件通常會顯示出較好的可去除性。
如何進行滲透劑可去除性測試?
清潔并干燥測試工件。
將滲透劑涂抹在測試工件上。
根據滲透劑測試級別3(III)編寫的部分特定技術表中的*時間進行滲透劑滲透。
使用測試工件標準中的沖洗時間和水壓沖洗掉工件上的滲透劑(如果不是方法A滲透劑,則根據該滲透劑方法的標準將其除去)。
干燥測試工件。
施加顯像劑。
在UV-A光下檢查并評估存在的背景熒光水平。
詞條
詞條說明
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? ? ? ?1、通用型磁粉探傷機在測量前應清除被測物體表面所有的灰塵、污垢,鏟除油漆等復蓋物。粗糙的表面會引起通用型磁粉探傷機測量誤差,甚至造成通用型磁粉探傷機無讀數(shù)。?? ? ? ?2、通用型型磁粉探傷機測量前應盡量使被測材料表面光滑。通用型磁粉探傷機還可使用高粘度耦合劑。測量圓柱型材料,如管子、油桶等,
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