一六儀器生產(chǎn)的XAD系列光譜分析儀有哪些優(yōu)勢(shì)？

時(shí)間：2022-07-22

江蘇一六儀器生產(chǎn)的XAD系列熒光光譜儀是一款上照式全元素光譜儀，可測(cè)量納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及多元素成分分析，**的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。

1. 微小樣品檢測(cè)：較小測(cè)量面積0.008mm2 ;

2. 變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-90mm ;

3. *的EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測(cè)，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量;

4. **的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限;

5. 高性能探測(cè)器：SDD硅漂移窗口面積25/50mm2探測(cè)器;

6. X射線裝置：微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置;

7. 上照式設(shè)計(jì)：實(shí)現(xiàn)對(duì)**大樣品或者密集點(diǎn)位進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn) 高效率測(cè)量;

8. 可編程自動(dòng)位移：選配自動(dòng)平臺(tái)，X210*Y230*Z145mm行程內(nèi)**自動(dòng)測(cè)量;

一六儀器的免費(fèi)保修期為安裝調(diào)試驗(yàn)收合格后，雙方簽訂驗(yàn)收調(diào)試報(bào)告開(kāi)始計(jì)一年，保修期內(nèi)，對(duì)于非人為造成的儀器故障實(shí)行免費(fèi)維修。安裝時(shí)現(xiàn)場(chǎng)提供分析儀器的硬件、軟件操作培訓(xùn)，使操作人員能夠掌握相關(guān)儀器的使用和日常維護(hù)。

以上就是熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部?jī)?nèi)容，如果大家想要了解更多關(guān)于熒光光譜儀的內(nèi)容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領(lǐng)域。

詞條
詞條說(shuō)明
使用鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)有哪些？
鍍層測(cè)厚儀具有非常高的精密度,所以才能對(duì)物件進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量,但是要想獲得較佳的測(cè)量效果,一方面要從鍍層測(cè)厚儀從專門公司采購(gòu)儀器,另一方面就是要使用正確的操作方式,同時(shí)在使用鍍層測(cè)厚儀時(shí)注意各個(gè)方面的事項(xiàng)。接下來(lái)和一六儀器一起了解使用鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)有哪些。使用鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)：一、工作環(huán)境鍍層膜厚儀屬于高精密儀器，為確保測(cè)試數(shù)值的準(zhǔn)確性及延長(zhǎng)儀器使用壽命，環(huán)境為實(shí)驗(yàn)室級(jí)別，如溫度20±5℃，濕
IC載板和引線框架鍍層測(cè)厚及成分分析的難點(diǎn)有哪些？
集成電路（Integrated Circuits，IC）在現(xiàn)代科技領(lǐng)域扮演著的角色，而IC載板和引線框架作為IC封裝的重要組成部分，對(duì)于電子設(shè)備的性能和可靠性具有重要影響。在IC載板和引線框架的制造過(guò)程中，鍍層的測(cè)厚及成分分析成為了關(guān)鍵技術(shù)，然而，這個(gè)過(guò)程卻面臨著一系列挑戰(zhàn)和難點(diǎn)。?IC載板和引線框架的重要性：?IC載板作為IC封裝的基底，支撐著微小的集成電路芯片，不僅需要具備
一文了解光譜分析儀及光譜分析儀種類
光譜分析儀簡(jiǎn)稱光譜儀，是將成分復(fù)雜的復(fù)合光分解為光譜線并進(jìn)行測(cè)量和計(jì)算的科學(xué)儀器，被廣泛應(yīng)用于輻射度學(xué)分析、顏色測(cè)量、化學(xué)成份分析等領(lǐng)域，下面和一六儀器一起了解一下。光譜分析儀一般由分光系統(tǒng)、接收系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成，其工作原理是將光源發(fā)出的復(fù)色光按照不同的波長(zhǎng)分離出來(lái)，配合各種光電探測(cè)器件對(duì)譜線強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)量，獲得光譜功率(輻射)分布，再計(jì)算出色品坐標(biāo)、色溫、顯色指數(shù)、光通量、輻射通量等光色性能
淺談無(wú)損檢測(cè)分類
無(wú)損檢測(cè)是一種用于評(píng)估材料、組件或結(jié)構(gòu)的內(nèi)部和外部缺陷或性能問(wèn)題的技術(shù)，而不需要破壞或改變其原始狀態(tài)。以下是一些常用于無(wú)損檢測(cè)的主要儀器和技術(shù)：?1. 超聲波檢測(cè)（Ultrasonic Testing，UT）：超聲波檢測(cè)使用超聲波傳感器通過(guò)材料中的聲波傳播來(lái)檢測(cè)內(nèi)部缺陷，如氣孔、裂紋、夾雜和結(jié)構(gòu)變化。它在航空、核工業(yè)、和制造業(yè)等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。?2. 磁粉檢測(cè)（Magnetic