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詞條說明
一、芯片可靠性測(cè)試比常見的幾種試驗(yàn):加速測(cè)試:在半導(dǎo)體器件中,常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數(shù)情況下,加速測(cè)試不改變故障的物理特性,但會(huì)改變觀察時(shí)間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額”。高加速測(cè)試是基于 JEDEC 的資質(zhì)認(rèn)證測(cè)試的關(guān)鍵部分。溫度循環(huán):根據(jù) JED22-A104 標(biāo)準(zhǔn),溫度循環(huán) (TC) 讓部件經(jīng)受較端高溫和低溫之間的轉(zhuǎn)換。進(jìn)行該測(cè)試時(shí),將部件反復(fù)暴露
高低溫試驗(yàn)設(shè)備濕球溫度紗布選料、運(yùn)用不規(guī)范對(duì)環(huán)境濕度影響挺大,別小瞧一條小小布帶,它在試驗(yàn)全過程中但是十分要害的存有。環(huán)境濕度達(dá)不上規(guī)定或許出現(xiàn)環(huán)境濕度顯示信息**的狀況,就我們分析,要害是因?yàn)楦汕驕囟燃啿歼x料、運(yùn)用不規(guī)范導(dǎo)致的。濕熱試驗(yàn)箱常用的干球溫度紗布并非全部紗布都能代替運(yùn)用,相關(guān)規(guī)范要求,干球溫度紗布務(wù)必是亞麻布織出的型“干球溫度紗布”,否則無法確保濕球溫度計(jì)量程的準(zhǔn)確性,也就是說環(huán)境
2022中國(guó)光網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)圓滿結(jié)束,廣東宏展應(yīng)邀參加本次會(huì)議
2022年8月3日*22屆2022中國(guó)光網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)在北京新青海喜來登酒店盛大開幕,廣東宏展儀器受邀參加大會(huì),本次大會(huì)會(huì)聚職業(yè)工業(yè)鏈及各大院校,為尋求產(chǎn)學(xué)研融合,一起討論光通訊技能較大市場(chǎng)機(jī)會(huì),助力光通訊工業(yè)及其智能化的工業(yè)提升,廣東宏展應(yīng)邀出席本次研討會(huì)!北京大學(xué)信息科學(xué)技能學(xué)院現(xiàn)代通訊研究所教授周國(guó)平發(fā)表講話,他介紹了光電子芯片的開展進(jìn)程,從1950年開展至今,光電子芯片不斷較新?lián)Q代,現(xiàn)在已經(jīng)成
手機(jī)檢測(cè)出廠前的環(huán)境試驗(yàn)
根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)YD-T1539-2006的相關(guān)要求,移動(dòng)手機(jī)需要做規(guī)定要求可靠性測(cè)試,以檢測(cè)手機(jī)能否通過相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。在行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)YD-T1539-2006中規(guī)定,移動(dòng)手機(jī)需要做的環(huán)境試驗(yàn)有許多種類,例如:低溫、高溫、濕熱、溫度沖擊、鹽霧、砂塵等環(huán)境試驗(yàn)。下面詳細(xì)講解幾個(gè)相關(guān)測(cè)試要求:1.低溫試驗(yàn)移動(dòng)通信手持機(jī)在關(guān)機(jī)狀態(tài)下經(jīng)(-40±3)℃低溫存儲(chǔ)16h,在正常大氣壓條件下恢復(fù)后,射頻性能、功能、外觀及裝
公司名: 廣東宏展科技有限公司
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