【漲知識】電子封裝的芯片剪切測試，操作步驟全解析！

時間：2024-02-02作者：蘇州科準測控有限公司瀏覽：21

近日，小編收到一位電子行業(yè)客戶的咨詢，想要測試電子封裝的芯片剪切力，該用什么樣的設(shè)備和夾具？為了解決客戶的測試需求，科準測控專門為其設(shè)計了一套的測試方案，包括儀器和操作方法。

電子封裝技術(shù)在現(xiàn)代電子設(shè)備制造中扮演著至關(guān)重要的角色，隨著技術(shù)的不斷進步和電子產(chǎn)品的不斷發(fā)展，對芯片和基板之間導(dǎo)電粘合劑的機械性要求也越來越高。在研究和設(shè)計過程中，芯片剪切力測試成為評估各向同性導(dǎo)電粘合劑性能的關(guān)鍵步驟之一。

本文科準測控小編將深入探討電子封裝中芯片剪切測試的原理和操作方法。我們將關(guān)注各向同性導(dǎo)電粘合劑相較傳統(tǒng)粘合劑的優(yōu)越性，以及通過剪切力測試揭示的機械性能差異。此外，失效分析在這一領(lǐng)域的重要性也將被強調(diào)，為讀者提供深刻了解電子封裝技術(shù)中關(guān)鍵的質(zhì)量控制和改進方向。

 

一、測試原理

芯片剪切測試通過施加力量以測定導(dǎo)電粘合劑在電子封裝中的機械性，為評估各向同性導(dǎo)電粘合劑剪切強度及失效分析提供關(guān)鍵原理。




二、測試相關(guān)標準

IPC TM-650 | MIL-STD-883E | AEC-Q200-006A | ASTM F1269-13




三、測試儀器

1、單柱拉力試驗機

2、端子強度剪切夾具

由一個可調(diào)節(jié)的 PCB 支架（可容納各種電路板尺寸）和一個線性導(dǎo)軌組成。

  

四、測試流程

1、準備工作： 確保單柱拉力試驗機處于正常工作狀態(tài)，接通電源并進行系統(tǒng)自檢。檢查定制夾具的可調(diào)節(jié) PCB 支架和線性導(dǎo)軌，確保其能夠容納不同電路板尺寸。 

2、樣品準備： 待測試的印刷電路板（PCB）和剪切目標組件。將樣品固定在夾具中，確保其位置準確，以便后續(xù)測試。

3、夾具設(shè)置： 調(diào)整可調(diào)節(jié)的 PCB 支架，使其適應(yīng)當前電路板的尺寸。通過線性導(dǎo)軌的調(diào)整，將操作員能夠準確將探頭置于感興趣的元件的。

4、探針選擇： 根據(jù)測試要求和組件尺寸，選擇合適的探針。確保探針的尺寸和形狀與被測試組件相匹配。

5、軟件設(shè)置： 啟動相應(yīng)的軟件，并使用其創(chuàng)建測試方法。配置測試參數(shù)，包括測試速度、測試范圍等。確保軟件能夠測量大力等相關(guān)結(jié)果。

6、測試執(zhí)行： 開始測試流程，單柱拉力試驗機施加逐漸增加的力量，剪切目標組件逐漸受力。記錄測試過程中的數(shù)據(jù)，包括力與位移的關(guān)系。 

7、結(jié)果分析： 分析測試結(jié)果，關(guān)注大力的達到點，記錄可能的失效模式。通過軟件提供的數(shù)據(jù)，進行圖形化展示和數(shù)據(jù)導(dǎo)出，以便進一步分析和報告。

8、報告生成： 根據(jù)測試生成，包括測試方法、實驗條件、大力數(shù)據(jù)以及可能的失效分析。

 

以上就是小編介紹的電子封裝的芯片剪切測試的內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)韼椭?！如果您還想了解多關(guān)于電子封裝芯片剪切測試方法、芯片封裝測試流程詳解、芯片封裝測試視頻、芯片設(shè)計封裝測試和單柱拉力試驗機操作規(guī)程等問題，歡迎您關(guān)注我們，也可以給我們私信和留言，科準測控技術(shù)團隊為您解答！


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