芬蘭SPECIM的V10E應(yīng)用在納米級(jí)高光譜成像觀察細(xì)胞活動(dòng)

時(shí)間：2023-10-18作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：35

納米技術(shù)是一個(gè)快速增長(zhǎng)的研發(fā)領(lǐng)域。這種技術(shù)增長(zhǎng)催生了對(duì)較強(qiáng)大的工具和設(shè)備的需求，特別是在成像和圖像分析方面。研究人員需要能夠快速輕松地對(duì)**狀態(tài)下的目標(biāo)的納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像、表征和繪圖，而*染色和相關(guān)樣品制備。

CytoViva（一家顯微鏡成像產(chǎn)品制造商）通過(guò)將Specim的*光譜儀與其**的增強(qiáng)暗場(chǎng)（EDF）顯微鏡光學(xué)元件和定制的高光譜圖像分析軟件相結(jié)合，解決了這一需求。

高光譜成像是如何在納米尺度上工作的？

下圖展示了Specim的高光譜分辨率V10E可見(jiàn)光近紅外光譜儀與CytoViva的EDF顯微鏡光學(xué)器件相結(jié)合的強(qiáng)大功能。可以暴露用于靶向蛋白功能化的金納米粒子（AuNPs）的未染色哺乳動(dòng)物細(xì)胞。金納米顆粒是直徑為1至100納米的小金顆粒。

圖1是細(xì)胞中AuNPs的高光譜圖像，每個(gè)納米級(jí)圖像像素都包含VNIR光譜響應(yīng)。圖像是用CytoViva的EDF照明器收集的，該照明器安裝在使用60X油物鏡的Olympus BX-43顯微鏡架上。

使用Specim高光譜相機(jī)和CytoViva的專(zhuān)有數(shù)據(jù)采集軟件，以線掃描方式對(duì)細(xì)胞進(jìn)行成像。一個(gè)自動(dòng)顯微鏡臺(tái)將樣本圖像移動(dòng)到與Specim sCMOS相機(jī)集成的Specim V10E光譜儀上，創(chuàng)建一個(gè)高光譜數(shù)據(jù)立方體。

圖2是右上角其中一個(gè)單元格的縮放圖像。這些圖像代表了CytoViva的EDF顯微鏡照明技術(shù)的力量，因?yàn)樗鼈儺a(chǎn)生了嵌入細(xì)胞中的納米級(jí)實(shí)體的非常高的信噪比圖像。



圖3顯示了可以使用該系統(tǒng)收集和分析的光譜數(shù)據(jù)。白色曲線代表細(xì)胞，紅色曲線代表功能化納米顆粒的*特光譜指紋。光譜指紋可以繪制樣品中納米顆粒的圖譜（見(jiàn)圖4）。細(xì)胞的光譜響應(yīng)可以進(jìn)一步用于過(guò)濾映射輸入數(shù)據(jù)以防止誤報(bào)。



世界各地的研究人員都依賴于高光譜顯微鏡

**數(shù)百家良好的研究實(shí)驗(yàn)室使用CytoViva的高光譜顯微鏡系統(tǒng)，結(jié)合Specim的光譜儀和高光譜相機(jī)，觀察1至100nm的納米材料與細(xì)胞、組織和其他基質(zhì)的相互作用。CytoViva高光譜顯微鏡系統(tǒng)生成的數(shù)據(jù)已在1600多份科學(xué)期刊上發(fā)表。

CytoViva的系統(tǒng)支持納米藥物遞送、納米生物傳感器開(kāi)發(fā)以及納米材料合成和表征等應(yīng)用?？梢杂^察到的納米材料包括金屬、金屬氧化物、CNT、聚合物和基于脂質(zhì)的材料。CytoViva的高光譜顯微鏡也被開(kāi)發(fā)用于新的臨床應(yīng)用和診斷，例如液體活檢以尋找癌癥細(xì)胞。




深圳維爾克斯光電有限公司專(zhuān)注于激光防護(hù)鏡,衍射光學(xué)元件,DOE等, 歡迎致電 18926463275

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 氙弧燈選型

  氙弧燈由于其電弧長(zhǎng)度通常只有幾毫米，相對(duì)于上百甚至幾百毫米的應(yīng)用面積而言，氙弧燈可以看做是理想的點(diǎn)光源。類(lèi)似的光源還有水銀短弧等離子燈。氙弧燈屬于氣體放電燈，屬于一種特殊的氙燈，氙燈的主要特點(diǎn)是光譜范圍寬，覆蓋180nm~2500nm，而且光譜曲線平坦，可以很好地模擬太陽(yáng)光。氙弧燈和一般氙燈的區(qū)別就在于其長(zhǎng)度短、體積小，可以近似為一種點(diǎn)光源，而一般的氙燈則體積較大，不易現(xiàn)實(shí)輸出光束的控制。經(jīng)過(guò)多年

• optodiode探測(cè)器問(wèn)題指南

  optodiode探測(cè)器常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法如下：美國(guó)optodiode探測(cè)器響應(yīng)時(shí)間太長(zhǎng)（時(shí)間常數(shù)太慢），第一步是檢查源強(qiáng)度。如果光源的強(qiáng)度太高（**過(guò)1mW/cm2），探測(cè)器材料將加熱到改變探測(cè)器特性的點(diǎn)。這種變化迫使探測(cè)器比較初進(jìn)行測(cè)量所需的時(shí)間較長(zhǎng)，因?yàn)榛旧咸綔y(cè)器被重新敏化，這改變了探測(cè)器的光導(dǎo)特性。對(duì)探測(cè)器性能的影響程度取決于加熱/變化區(qū)域與整個(gè)探測(cè)器表面積的比率。optodiode探測(cè)器

• 光纖光譜儀應(yīng)用在檢測(cè)薄膜厚度

  首先介紹一下光的干涉。由于光的波動(dòng)特性，若干列光波在空間相遇時(shí)，互相疊加或互相抵消，引起光強(qiáng)的重新分布，在某些區(qū)域始終加強(qiáng)，在某些區(qū)域始終減弱，從而出現(xiàn)了明暗相間的條紋，這種現(xiàn)象稱(chēng)為光的干涉。使用光纖光譜儀測(cè)薄膜厚度上圖為使用海洋光學(xué)光纖光譜儀，利用干涉效應(yīng)來(lái)測(cè)量薄膜厚度的原理圖。當(dāng)一束光以θ1從薄膜表面入射，其中一部分光直接反射，另一部分光則以θ2進(jìn)入薄膜發(fā)生折射，折射光經(jīng)膜層下表面反射后，再經(jīng)

• Optotune散斑衰減器LSR使用手冊(cè)

  Optotune散斑衰減器LSR選型非常的簡(jiǎn)單，總共就兩個(gè)型號(hào)，SR-4C-L-18x18-9-T2-VIS和LSR-4C-L-18x18-9-T2-NC，這兩個(gè)型號(hào)的參數(shù)一樣，區(qū)別只是一個(gè)鍍膜和另外一個(gè)不鍍膜。此外還有一些配置可供客戶選擇，**個(gè)配置是5V DC、USB電源插頭，另外一個(gè)配置是散斑衰減器LSR擴(kuò)散器的支架，這兩個(gè)配置客戶可以按照自己的需求來(lái)買(mǎi)。如果客戶有符合的電源插頭可以不必要多