UV762雙光束紫外可見分光光度計
該產品是一種全新的雙光束自動掃描紫外可見分光光度計,采用了全新的光學系統(tǒng)設計、微機控制和處理數(shù)據(jù)、大屏幕LCD中文窗口顯示操作菜單、光譜圖和分析測試數(shù)據(jù)。具有光度測量、自動掃描測量光譜、定量分析、動力學分光光度分析等多項功能。分析靈敏度和精 確度高;光譜數(shù)據(jù)處理功能強;采用中文人機對話、操作方便,產品外形美觀大方。該產品廣泛用于生物化學、環(huán)境監(jiān)測、商品檢驗、石油化工、黑色和有色冶金等領域,使質量控制、技術鑒定和科學研究所必須的基本設備。
UV762雙光束紫外可見分光光度計主要特點:
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全新的光學系統(tǒng)設計,使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能,雜散光和噪聲低,測光精 確度和穩(wěn)定可靠性高。
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*特的氘燈和鎢燈安裝、光源自動切換及自動尋找較 佳位置的設計和工作方式,使用戶操作儀器和維修替換光源較為方便、正確和安全。
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優(yōu)良的軟件設計和編制,使儀器有較強的光譜數(shù)據(jù)處理功能:自動掃描測量光譜、多波長(1~3λ)測定、動力學測定、1~3次曲線擬合、1~4階導數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。
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采用大屏幕中文窗口顯示,具有良好的人機對話界面。
技術指標:
● 波長范圍:200nm~1100nm
● 波長較 大允許誤差:±0.5nm
● 波長重復性:≤0.2nm
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透射比較 大允許誤差:±0.5%(T)
● 透射比重復性:0.2%(T)
● 光譜帶寬:2nm
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基線平直度:±0.004A(200nm~1000nm)
● 漂移:≤0.004A/h(500nm處,預熱2小時)
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雜散光:≤0.15%(T)(在220nm處, 以NaI測定)(在360nm處,以NaNO2測定)
其它:
● 電源:AC220V±22V 50Hz±1Hz
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詞條
詞條說明
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公司名: 南昌星楓儀器有限公司
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電 話: 0791-85226050
手 機: 15970662315
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地 址: 江西南昌青云譜區(qū)南昌市青云譜區(qū)三點西路44號
郵 編: 330001
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