一、 靜電放電(ESD)原因
正常情況下,物體呈現(xiàn)電中性。而物體會(huì)通過摩擦、感應(yīng)等方式獲得電子或者失去電子,使物體帶電。我們知道絕緣體和導(dǎo)體之間不是**的,當(dāng)能量足夠大的時(shí)候,就會(huì)把絕緣體擊穿,從而傳導(dǎo)電荷。物體電荷積累到足夠多的時(shí)候,就可能把本來不導(dǎo)電的空氣擊穿,從而泄放電荷,進(jìn)入新的平衡。這就是靜電放電現(xiàn)象。通常由于擊穿,電阻就會(huì)很小,從而造成瞬間大電流。但這樣的靜電能量并不高,因此,大電流的持續(xù)時(shí)間也很短。
二、靜電放電模型及標(biāo)準(zhǔn)
根據(jù)特征不同,通常將靜電放電模型分為人體模型(HBM)、機(jī)器模型(MM)和帶電器件模型(CDM)。
目前,歐盟已經(jīng)做了工業(yè)級(jí)別的靜電防護(hù)標(biāo)準(zhǔn),即IEC61000-4-2,我國(guó)的靜電標(biāo)準(zhǔn)為GB/T 17626.2-1998,與歐盟標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-2等同。
首先,左側(cè)直流高壓電源通過電阻給電容Cs充電,繼而斷掉左側(cè)開關(guān),再次打開放電開關(guān),使Cs中的電荷通過Rd放電電阻泄放給待測(cè)設(shè)備。在IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)下,儲(chǔ)能電容Cs為150pF,放電電阻Rd為330 ohm。
而人體模型中,Cs為100pF,Rd為1.5Kohm;機(jī)器模型中,Cs為200pF,Rd幾乎為0 ohm??梢钥闯觯瑱C(jī)器模型中,儲(chǔ)能電容的容值較高,就意味著電荷更多,而放電電阻幾乎為零,則意味著線路阻抗很低。這樣,高電荷低阻抗的放電回路,靜電的能力也是較強(qiáng)。因此,機(jī)器模型也被稱為“較嚴(yán)酷的人體模型”。帶電器件模型,是在電子產(chǎn)品制造和運(yùn)輸中摩擦、接觸累積的電荷,實(shí)際上很難模擬放電過程。因此也沒有形成具體的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
根據(jù)靜電放電模型,IEC61000-4-2模擬靜電放電做了相應(yīng)的靜電產(chǎn)生設(shè)備——靜電發(fā)生器,又叫靜電槍。
根據(jù)人體放電模型,IEC61000-4-2制定了五級(jí)的試驗(yàn)等級(jí),包括了4個(gè)試驗(yàn)等級(jí)和1個(gè)開放等級(jí)。一般電子產(chǎn)品過的CTA認(rèn)證,要求靜電等級(jí)為3,即接觸6kv,空氣8kv。相應(yīng)的接觸放電和空氣放電的靜電槍的槍頭是不同的,接觸放電的頭是尖頭,方便接觸,而空氣放電的槍頭是圓頭。表1為靜電放電試驗(yàn)等級(jí)。
三、靜電的危害
靜電放電主要會(huì)對(duì)設(shè)備產(chǎn)生損壞,主要可以分為設(shè)備*失效和暫時(shí)失效兩種。
由于靜電放電會(huì)產(chǎn)生瞬間大電流,因此能量可能會(huì)對(duì)電路造成損害,直接破壞器件的正常使用,這就使設(shè)備被燒毀,引起*性的失效。
另一方面,由于靜電中還會(huì)存在高頻脈沖,這些脈沖引起的磁場(chǎng)通過耦合、輻射等方式,對(duì)周圍的場(chǎng)造成電磁干擾,通過縫隙、電路等對(duì)器件產(chǎn)生干擾,導(dǎo)致設(shè)備的暫時(shí)性失效。
四、靜電防護(hù)
既然知道靜電造成的危害,就要在設(shè)計(jì)產(chǎn)品的時(shí)候想辦法去規(guī)避危害。
在處理靜電問題的時(shí)候,主要遵從兩大方法:堵和疏。既然靜電無法避免產(chǎn)生,那么我們就要對(duì)他進(jìn)行處理。
1、堵
堵,顧名思義,就是嚴(yán)防死守。雖然你有靜電,但是我不讓它進(jìn)入到我的設(shè)備中,這就是堵。這個(gè)問題主要是結(jié)構(gòu)工程師完成的。讓殼體匹配度較高。
主要有兩點(diǎn)方法:
1> 盡量減小殼體的縫隙。讓外邊的靜電沒有縫隙進(jìn)到設(shè)備內(nèi)部造成傷害。
2> 拉大外殼到內(nèi)部電路的間距。經(jīng)驗(yàn)表明,8kv左右的靜電經(jīng)過5mm的距離后可完全衰減。
3> 軟件上做處理。我們經(jīng)常會(huì)碰到,ESD把屏打花的情況,這時(shí)候就要軟件來做更改防止花屏。針對(duì)這個(gè)問題,剛?cè)胄械臅r(shí)候并不理解。ESD明明是硬件問題,為什么軟件處理之后能好。以花屏問題為例,可以看出這是暫時(shí)失效的問題。ESD可能導(dǎo)致屏幕的控制腳引入噪聲,從而引起中斷。這樣,通過優(yōu)化軟件代碼(比如將中斷口的觸發(fā)條件進(jìn)行判斷,對(duì)中斷信號(hào)設(shè)置持續(xù)時(shí)間等),一些不可自動(dòng)恢復(fù)的故障可以被避免,可恢復(fù)的故障概率也可以降低。
2、疏
疏則是讓靜電找到合適的泄放路徑,而不會(huì)從器件內(nèi)部泄放。
主要可以采取如下方法:
1> 要盡量保證完整的地平面。完整的地平面不但可以降低噪聲干擾等輻射之外,還可以增強(qiáng)ESD性能。大的地平面有助于靜電泄放,同時(shí)降低靜電場(chǎng)產(chǎn)生的影響。
2> 增大表層地的露銅區(qū)域。這樣有利于外部靜電通過表面露出的地直接導(dǎo)入板子主地,完成大面積泄放。
3> 減小電源層與地平面的距離。我們知道,靜電無非是能量,而能量可以通過儲(chǔ)能元件來吸收。
其中,ε為介電常數(shù),d為兩個(gè)平行板之間的距離,S為平行板的面積。
由公式可以看出,減小兩個(gè)平行板之間的距離,就是增大電容器的電容值。
電源層和地平面可以構(gòu)成一個(gè)平行板電容器,減小之前的距離,則可以增大主板的分布電容。當(dāng)靜電進(jìn)來之后,這些分布電容就可以吸收靜電能量,從而達(dá)到防護(hù)作用。
4> 增加ESD防護(hù)器件。對(duì)于裸露在外接口電路,ESD器件是很必要的。像USB口、電源口、電池連接器等,都是要重點(diǎn)防護(hù)的地方。這些地方增加ESD防護(hù)器件是必要的。也可以預(yù)留位置,在需要的時(shí)候貼上去。主要就是對(duì)ESD能量進(jìn)行泄放。ESD器件主要包括TVS管、穩(wěn)壓管、壓敏電阻等。相對(duì)來講,ESD靜電管性能較佳,響應(yīng)速度較快,近幾年也被大面積使用。而在一些接口處,對(duì)電流要求不高,比如ADC/GPIO等,可以通過串電阻的方式來增強(qiáng)ESD性能。
詞條
詞條說明
靜電放電(ESD)理論研究的已經(jīng)相當(dāng)成熟,為了模擬分析靜電事件,前人設(shè)計(jì)了很多靜電放電模型。常見的靜電模型有:人體模型(HBM),帶電器件模型,場(chǎng)感應(yīng)模型,場(chǎng)增強(qiáng)模型,機(jī)器模型和電容耦合模型等。芯片級(jí)一般用HBM做測(cè)試,而電子產(chǎn)品則用IEC 6 1000-4-2的放電模型做測(cè)試。為對(duì) ESD 的測(cè)試進(jìn)行統(tǒng)一規(guī)范,在工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方面,歐共體的 IEC 61000-4-2 已建立起嚴(yán)格的瞬變沖擊抑制標(biāo)準(zhǔn);
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