STAIB電子源ES-380

時(shí)間：2022-06-09作者：天津瑞利光電科技有限公司瀏覽：55

天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷德國(guó)STAIB電子源ES-380

 

品牌介紹：

STAIB于1987年在德國(guó)慕尼黑附近成立，擁有**過30年的豐富經(jīng)驗(yàn)，是可靠的高性能表面分析儀器的**生產(chǎn)商之一。自成立以來公司很快組建了一支由高素質(zhì)的科學(xué)家和技術(shù)人員組成的團(tuán)隊(duì)，致力于開發(fā)和制造表面分析儀器。主要目標(biāo)是為研究，開發(fā)和制造提供量身定制的高度創(chuàng)新的技術(shù)解決方案和可靠?jī)x器。多年來，STAIB已交付了從組件到完整系統(tǒng)的各種儀器，這些儀器因其質(zhì)量和可靠性而廣受認(rèn)可。

 

產(chǎn)品范圍：

德國(guó)STAIB電子源、能量分析儀、光譜儀、帶電粒子探測(cè)器、成像能量過濾器。

 

主要型號(hào)：

ES-380、ES-380-HC、ES-550、ES-550-HC、ES-1050、ES-1050-HC、ESA 100/150、DESA 100/150

 

相關(guān)產(chǎn)品介紹：

ES-380

具有高達(dá)3 keV的中等能量范圍的通用電子源，其聚焦束的大小和偏轉(zhuǎn)/掃描能力均可調(diào)。

主要特點(diǎn)：

-能量范圍20 eV – 3 keV

-光束電流（max）20μA

-光束尺寸（min），max能量為90 μm，工作距離為21 mm

特點(diǎn)：

-工作距離（WD）10毫米– 100毫米

-合適WD 21 mm標(biāo)稱值

-基本光束消隱（可選）

-外部光束消隱（可選）

-光束脈沖（可選）

-電腦控制（可選）

-電磁屏蔽（可選）

-光束掃描（可選）

-微處理器控制的電子束電流調(diào)節(jié)（可選）

-遙控

 

DESA 100是兩級(jí)能量光譜儀。選擇圓柱幾何形狀以保持高的靈敏度。輸入透鏡和能量光譜儀這兩個(gè)階段均來自柱面鏡配置。與標(biāo)準(zhǔn)CMA不同，聚焦是通過調(diào)節(jié)內(nèi)，外圓柱的電位來實(shí)現(xiàn)的。此外，粒子進(jìn)入圓柱體之間的圓柱鏡區(qū)域，而不是通過狹縫進(jìn)入內(nèi)圓柱體。好處是光譜儀和樣品之間的工作距離長(zhǎng)達(dá)55毫米，從而使樣品在復(fù)雜和大型系統(tǒng)中的定位變得*。在能量選擇之前，使顆粒減速。通過調(diào)節(jié)通過光譜儀的粒子能量可以實(shí)現(xiàn)可變分辨率。

-高靈敏度

圓柱幾何形狀具有非常大的立體角，具有好的透射率和靈敏度。大立體角對(duì)于   使用精細(xì)聚焦電子束的高靈敏度AES和掃描俄歇顯微鏡非常有用。對(duì)于光電子光譜學(xué)來說，樣品在較大的范圍內(nèi)被激發(fā)，輸入透鏡將被分析的表面限制在輪廓分明的圓形斑點(diǎn)上。

-可變的能量分辨率

可以調(diào)整通過光譜儀的粒子的能量，并且可以在很寬的數(shù)值范圍（100 meV至6 eV）中選擇能量分辨率。分辨率由計(jì)算機(jī)控制，可以針對(duì)每個(gè)采集窗口獨(dú)立調(diào)整。

-高能量分辨率功能

將分辨力設(shè)置為大于0.05％的值使DESA 100可以研究峰的精細(xì)結(jié)構(gòu)并獲得有關(guān)表面化學(xué)狀態(tài)的線索。這樣的高能量分辨率也可以在大型蒸發(fā)系統(tǒng)中執(zhí)行，從而提供了在生長(zhǎng)過程中對(duì)表面化學(xué)狀態(tài)進(jìn)行原位和實(shí)時(shí)監(jiān)控的*特功能。

-非關(guān)鍵的樣品定位樣品

位置可以從其標(biāo)稱位置偏移幾毫米，而不會(huì)降低分析質(zhì)量。55 mm的工作距離可以改變3 mm，而不會(huì)降低信號(hào)質(zhì)量。傳輸和能量校準(zhǔn)均保持穩(wěn)定。這種*特的功能使DESA 100非常適用于所有表面分析系統(tǒng)，包括結(jié)合了多種分析和沉積技術(shù)的大型系統(tǒng)。

-掃描俄歇顯微鏡

由于其較大的接收角度，優(yōu)越的小光點(diǎn)靈敏度使DESA 100非常適合于掃描俄歇顯微鏡。使用MICROFOCUS電子槍可以為二次電子顯微鏡和掃描俄歇顯微鏡提供較高的空間分辨率。DESA 100的體積小，非常適合作為掃描電子顯微鏡的附加組件。

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