膜厚測量儀把控產(chǎn)品質(zhì)量細節(jié)

時間：2023-02-01

臺式的熒光X射線膜厚測試儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。那么它是如何把控產(chǎn)品質(zhì)量細節(jié)的?接下來和一六儀器儀器了解膜厚測量儀把控產(chǎn)品質(zhì)量細節(jié)注意事項。

膜厚測試儀測量時需要注意的事項:

1、首先大家在用測量儀進行測試使用時，要選用與試件相似的金屬磁性標準片來進行測量，不要選擇差別或者區(qū)分過大的標準片來試驗測量，不然會導致很大的測量誤差。

2、其次用戶需要把測量儀的側頭與試樣表面保持垂直，不要出現(xiàn)任何的傾斜，否則不利于測量工作的順利展開，會讓測量任務半途而廢的，變得毫無意義。

3、我們要把膜厚測星儀放置在沒有磁性干擾的場所來進行測試，否則會對儀器的測量性能造成影響，使得測星儀器不能夠發(fā)揮出應有的測量水平來。

4、用戶在進行測量儀的測量過程中，需要保持壓力的恒定，不然很容易影響到測星的讀數(shù)，會給大家?guī)聿焕挠绊?，讓大家不能記錄到正確化的讀數(shù)結果。

5、測量儀在使用時要讓儀器測頭和被測試件有直接性接觸，如果兩種之間有雜質(zhì)存在的話，需要**行清理方可再展開測星工作。

6、大家在使用膜厚測量儀進行測試的時候，不要在內(nèi)轉處和靠近試件邊緣處進行測量，這樣會造成測量結果的誤差，會給我們帶來不便性的。讓測量出來的數(shù)據(jù)是沒有任何參考**意義的。

以上就是一六儀器整理分享的關于膜厚測量儀把控產(chǎn)品質(zhì)量細節(jié)注意事項。想了解更多相關資訊，歡迎持續(xù)關注。

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