UTSC-240KVAR-400V開關狀態(tài)指示儀圖解


    電氣圖形符號和電氣文字符號方便用戶查閱,設計電氣圖紙,制造有限公司依據(jù)新標準,iec標準,整理了電氣圖紙設計中常見的電氣符號與大家分享。集電極接管殼的pnp半導體管雙向三較晶體閘流管電感器,線圈,繞組,扼流圈。
    pnp半導體管文字符號:v雙向晶體閘流管文字符號:vs扼流線圈文字符號:ra,lc(舊)隔離開關具有中間斷開位置的雙向隔離開關負荷開關(負荷隔離開關)隔離開關文字符號:qb,qs(舊)隔離開關文字符號:qb,qs(舊)負荷開關文字符號:qb,qs(舊)。
    被吸合時延時閉合的常閉觸點被釋放時延時閉合的常閉觸點被吸合時延時閉合,釋放時延時斷開的常開觸點時間繼電器文字符號:kt時間繼電器文字符號:kt時間繼電器文字符號:kt有常開觸點但無自動復位旋轉(zhuǎn)開關有常開觸點自復位蘑菇式按鈕開關有常開觸點鑰匙操作的按鈕開關。
    轉(zhuǎn)換開關文字符號:sa按鈕文字符號:sb按鈕文字符號:sbct是電流互感器(currenttransformer)的縮寫簡稱,作為名詞使用是一個名詞,ta是電流互感器文字符號,用于二次圖代指電流互感器,是與舊標lh相對應。電流互感器的二次文字號**用過ct,只用過lh。
    其實完全可以把這個理由從條文解釋中提出來放在正文中單獨成為一個條款。但完全排除使用嵌入式疏散照明燈具的做法也值得商榷。均勻度提出要求規(guī)范只要對地面照度值其實從規(guī)范編制原則上說盡可能充分利用疏散照明燈具的光通量電力儀表認為:新民用建筑電氣設計標準gb51348-2019*13.6.5條規(guī)定的出發(fā)點是考慮到火災時人員疏散的安全性比如說可以要求“疏散照明燈具外型應不會聚集煙氣”即可。無論實際使用何種燈具只要其能指標合格都應該是被允許的。當然,民用建筑電氣設計標準gb51348-2019*13.6.5條中對于嵌入式燈具易收集氣的理由還是很有道理的。
    均溫塊的使用沒有得到很好的推廣。熱電偶校準通常是將二等標準鉑銠10-鉑熱電偶和被校熱電偶捆扎在一起本文通過試驗數(shù)據(jù)的對比分析,證明均溫塊對熱電偶校準質(zhì)量的重要影響,并對其在實際工作中的應用進行了探討。放入管式爐合格溫場中用比較法完成的。管式爐溫場一致性是校準結(jié)果準確性的重要因素。對管式爐軸向溫場和徑向溫場都有著明確的要求。以改善爐溫性能。由于校準人員的重視程度不足但在實際工作中規(guī)范中提出了均溫塊的概念為了好地熱電偶校準時的溫場一致性在jjf1637-2017《廉金屬熱電偶校準規(guī)范》和jjf1262-2010《鎧裝熱電偶校準規(guī)范》中。
    使用時將鎧裝熱電偶直接插入孔中,捆扎,控溫孔可以和測試孔開在一面,也可以開在均溫塊的背面,所有開孔均為盲孔,如圖1b所示。高使用溫度1200℃。根據(jù)被校準對象不同提高管式爐溫場均勻性主要用來在廉金屬熱電偶(特別是鎧裝廉金屬熱電偶)校準時起均溫作用熱電偶管式爐均溫塊是采用高溫合金材料(一般為鎳鉻合金)制作而成的均溫裝置本試驗中將爐口處的擋板和均溫塊做成一體結(jié)構(gòu)。多孔型均溫塊開有多個測試孔均溫塊的結(jié)構(gòu)有所不同:單孔型均溫塊在中心開有一個單孔,使用時將普通廉金屬熱電偶捆扎成束后放入孔內(nèi),如圖1a所示如圖1c所示,可以方便均溫塊在爐內(nèi)的定位,也便于溫場測試時進行轉(zhuǎn)動。
    先把移動熱電偶和固定熱電偶的負極在參考端短接,之后將移動熱電偶正極接測量儀器“+”。選取一臺管式爐固定熱電偶正極接測量儀器“-”,然后將2支測試偶同時插入均溫塊中心孔底部,測得微差值。在1000℃下對其帶均溫塊時的溫場一致性進行測試。用2支二等標準鉑銠10-鉑熱電偶作為測試偶。另一支插入中心孔中作為移動熱電偶。測試30mm距離內(nèi)溫度一致性。徑向溫度場的測試采用微差法由孔底開始向外一支插入均溫塊周邊任一孔底部作為固定熱電偶軸向溫場測試時測試方法如下:將均溫塊置于管式爐中心位置作為徑向溫場測試時“0”點位置的讀數(shù),再測試徑向溫場上,下,左,右位置和中心孔在孔底處的溫度一致性。
    無法將偶絲抽出來進行校準。通過x光檢測可以發(fā)現(xiàn),這類熱電偶的測量端和陶瓷管部之間往往具有一定的空隙。在與標準熱電偶捆扎在一起進行校準時,由于無法獲知測量端在瓷管內(nèi)的具置,導致校準結(jié)果誤差較大。測試結(jié)果如表1所示。故測試結(jié)果為由孔底向外各點的數(shù)據(jù)。需要用貴金屬熱電偶進行控溫和溫場測試。有時會采用不可拆卸的陶瓷封裝結(jié)構(gòu)為氣密性由于工作溫度較高在真空熱處理設備中由于均溫塊測試孔為盲孔帶均溫塊時軸向與徑向溫場測試示意圖分別如圖2軸向和圖3所示對于這種情況,可以參考鎧裝熱電偶的校準方法,將熱電偶插入均溫塊中進行校準。由于均溫塊本身具有較好的孔間溫度一致性,可以獲得準確的校準。但由于貴金屬熱電偶校準溫度較高,需要綜合考慮均溫塊的使用溫度,采用合適的高溫合金塊。
    按常規(guī)方法無法準確校準。通過設計制作符合其結(jié)構(gòu)特點的均溫塊,實現(xiàn)t3熱電偶靜態(tài)溫度特性校準。該均溫塊的開孔尺寸略大于熱電偶直徑,孔深也隨之增加,熱電偶插入均溫塊的深度與孔徑之比滿足要求。由于均溫塊內(nèi)部的傳熱方式主要以導熱為主,高溫時金屬內(nèi)部溫度分布均勻。該型熱電偶結(jié)構(gòu)特殊受溫度波動影響小。帶來較大測量誤差造成校準時受熱不均勻捆扎裝爐后會明顯改變管式爐溫場并且這類熱電偶一般直徑比較粗因此校準時對溫度場有著較高要求故能夠提供一個穩(wěn)定且均勻的溫場。試驗結(jié)果表明:將均溫塊應用于t3熱電偶的校準中是有效且的。為了好的校準結(jié)果,還可以將標準熱電偶套上與被校偶相似的外加金屬保護管,使二者輻射性能相接近。
    對于-200~0℃的溫度范圍:rt=r0[1+at+bt2+c(t-100℃)t對于0~850℃的溫度范圍:rt=r0(1+at+bt對于常用的工業(yè)鉑熱電阻,在以上兩式中的常數(shù)值分別為:a=3.90802×10-3℃-b=-5.802×10-7℃-c=-4.27350×10-12℃。
    對于滿足以上關系式中鉑熱電阻的溫度系數(shù)為:α=0.003850Ω·Ω-1·℃-1(α定義為:α=(r100-r/100×r0Ω·Ω-1·℃-在上述關系式中,r100為100℃時的電阻值,r0為0℃時的電阻值。
    鉑熱電阻分度表可根據(jù)上述鉑熱電阻的電阻-溫度關系制訂,但不包括其它的電阻分度表。本標準采用1968年**實用溫標(ipts-的溫度值。注:上述等式中所定義的電阻值不包含感溫元件與終端之間引線的電阻值,除非廠商特殊說明。3.1條款中的電阻值見。
    如果試驗是通過改變鉑熱電阻周圍介質(zhì)的溫度而進行的,則試驗介質(zhì)到達終溫度值的50%所需的時間不應**過鉑熱電阻的τ0.5的1/10。如果試驗是通過鉑熱電阻投入溫度不同的介質(zhì)而進行的,則被試鉑熱電阻到達終置入深度所需的時間不應**過鉑熱電阻的τ0.5的1/10。
    記錄儀器或儀表(詳見iec2直接作用的記錄電子測量儀器及其附件)的響應時間不應**過鉑熱電阻的τ0.5的1所記錄的熱響應時間值應取同一試驗至少三次測試結(jié)果的平均值,每次測試結(jié)果對于平均值的偏離應在±10%以內(nèi)。
    被試鉑熱電阻的置入部分應位于試驗流道的中部,其縱軸在垂直于介質(zhì)流動方向的平面上,流道的寬度應不小于被試鉑熱電阻直徑的10倍。熱響應時間小于1秒時,測試儀器應被設計為在鉑熱電阻前后方向不存在流動水的自由液面以避免加氣處理。在試驗流道的可用橫截面內(nèi),流速ν應保持0.4±0.05m初始溫度在5℃~30℃的范圍內(nèi)。溫度階躍值應不大于10℃。在試驗過程中,水的溫度變化應不大于溫度階躍值的±1%。試驗時。
    小置入深度應等于鉑熱電阻的敏感長度與直徑的5倍之和。若被試鉑熱電阻的設計置入深度小于上述數(shù)值,則按設計置入深度進行試驗,并在試驗報告中說明。試驗應在攪拌水槽中進行,水的溫度保持為0℃。詳見附被試鉑熱電阻處于設計置入深度,其激勵電流應耗散功率不大于0.1mw,在這樣的條件下測量被試鉑熱電阻的穩(wěn)態(tài)電阻值。
    在鉑熱電阻的額定電阻值為100Ω時,后一次測量穩(wěn)態(tài)電阻值應采用的激勵電流值為10ma。電阻值為10Ω時,對應的電流為30ma。對應電阻值所增加的溫度應不**過0.3℃。注:自熱測試不適合小型尺寸的鉑熱電阻。鉑熱電阻用于氣體中時,如需要,可要求廠商提供自熱影響的說明。
    對用于嚴酷環(huán)境的鉑熱電阻,應進行附加的型式檢驗。具體事宜應由廠商與用戶商定。實例如下:試驗裝置為鋪放在地面上的一塊厚度為6mm的鋼板。試驗時,被試鉑熱電阻的縱軸與鋼板表面基本上保持平行,兩者的距離約250mm。然后讓被試鉑熱電阻從這個高度自由跌落至鋼板上,這樣的過程應重復10次。

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