眾所周知,X熒光光譜分析儀可對礦樣的元素含量作可靠的定量分析。而若對礦山**充分利用,有一個關(guān)鍵前提:即需要即時獲取可靠的地球化學數(shù)據(jù),以快速描繪出礦體邊界。并且也需要對礦樣的元素進行一定的分析,而礦樣的元素含量的定量分析對分析礦山**有至關(guān)重要的作用。
礦山
目前,大多數(shù)采礦企業(yè)將采礦樣品送到遠離現(xiàn)場的實驗室進行檢測,這不僅費時費力,而且對偏遠地區(qū)也不現(xiàn)實。它體積小,檢測速度快,分析數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠X熒光光譜分析儀必將成為礦產(chǎn)企業(yè)*的儀器。X熒光光譜分析儀體積小、重量輕、檢測精度高、性能可靠,可廣泛應(yīng)用于勘探開采過程中各階段的礦樣成分分析,越來越被礦產(chǎn)企業(yè)所接受。X熒光光譜分析儀應(yīng)用廣泛,如冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等。RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用較廣泛。
X熒光光譜儀在陽光直射的高溫和高日照下也能保持高性能,這得益于充分考慮低功耗和儀器設(shè)計X射線管在高溫下及時排放,因此能承受惡劣的工作環(huán)境。其可分析元素可從鎂礦中分析(Mg)到钚礦(Pu)所有83種**礦石,包括重金屬礦石Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd等等。對于高品位、精選礦石的精確品位評價,提供礦石采集和采購**的依據(jù),也可以對礦渣和尾礦中殘留的礦石元素進行分析,在礦石開采過程、搪孔過程、研磨、濃縮、熔煉過程中進行質(zhì)量檢驗,確定品位,分析濾熔池、儲罐和鋼槽溶液,快速普查大范圍礦區(qū),有效確定區(qū)域模式,繪制礦山圖,實時調(diào)查現(xiàn)場,快速跟蹤礦化異常,有效尋找熱點區(qū)域,確定礦體邊界具有重要作用。通過現(xiàn)場分析輸送材料、精礦和礦渣,確定、跟蹤、提煉或濃縮過程的有效性。
X熒光光譜分析儀還可以對礦場描繪以及品位控制。通過實時就地分析多個樣本,實現(xiàn)對開采計劃進行指導(dǎo),有效地管理挖掘、爆破工作,在現(xiàn)場確定土壤、沉積物或者鉆孔樣本的地質(zhì)成分,以有效控制勘探成本。它也能夠?qū)ΦV石、礦渣、土壤、沉積物以及其他類似的樣品進行快速的金屬元素含量分析。無論是進行原地檢測還是非原地檢測,功能強大的計算軟件能夠自動消除由于不同樣品的材質(zhì)差異所造成的偏差,從而使操作者僅需將儀器探測頭直接接近樣品便可進行檢測,而*其他任何數(shù)據(jù)輸入或者進行再次校準。根據(jù)對檢測精度的不同要求,測試時間僅需數(shù)秒到數(shù)分鐘。
此外,X熒光光譜分析儀可以快速分析礦石樣品、精礦和礦渣的金屬元素成分。允許用戶使用特殊的校正因素來進一步提高檢測精度。它可以直接測試礦山現(xiàn)場收集的礦石樣品,但會影響元素的等級值,因為礦石中元素的含量分布不均勻,儀器測試點不能代表整個礦石,理想的分析效果要求我們干燥礦石樣品、研磨(**過160目) ,攪拌均勻,對于幾個含量PPM等級元素,測試時間長,相應(yīng)精度也會提高。
簡而言之,的決策往往取決于現(xiàn)有的礦山模型、公司的經(jīng)驗和技術(shù)。但僅僅充分挖掘礦山**和制定良好的采礦決策是不夠的。此時,選擇一個性能良好的X熒光光譜分析儀不僅節(jié)約了成本,而且非??焖?,大大提高了企業(yè)的生產(chǎn)效率。市場上大多數(shù)人X熒光光譜分析儀也參差不齊。選擇適合企業(yè)、性能優(yōu)良的儀器非常重要。與國外價格高、后期維護及時性低的進口儀器相比,創(chuàng)意儀器近年來逐漸得到企業(yè)的認可。
詞條
詞條說明
天瑞儀器rohs檢測光譜儀技術(shù)參數(shù)和配置介紹,天瑞儀器rohs檢測光譜儀產(chǎn)品應(yīng)用背景:RoHS是由歐盟立法制定的一項強制性標準,它的全稱是《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》(Restriction?of?Hazardous?Substances)。該標準已于2006年7月1日開始正式實施,主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標準,使之較加有利于人體健康
2021年9月29日,*十九屆北京分析測試學術(shù)報告會暨展覽會(BCEIA 2021)順利落下帷幕。作為分析測試行業(yè)的盛會,今年的BCEIA可謂百花齊放,盛況依舊。來自世界各地的700家儀器企業(yè)參展,天瑞儀器(展位號:2115)攜旗下重磅產(chǎn)品及解決方案精彩亮相展會現(xiàn)場,同與會嘉賓共襄盛舉。新款產(chǎn)品、技術(shù)交流、精彩活動目不暇接,下面讓我們一起來回顧天瑞儀器的精彩瞬間!天瑞展臺吸引了大量專業(yè)客戶駐足參觀
x熒光光譜儀你了解多少X熒光光譜儀是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發(fā)下,被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。X熒光光譜儀技術(shù)的主要特征為:利用低能X光激發(fā)待測元素,對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果,并且時間短,大大提高了檢測效率和工作效率:具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好
蘇州鍍層測厚儀價格 天瑞儀器股份公司,作為國內(nèi)高科技企業(yè)的一員,一直致力于光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。在其產(chǎn)品線中,鍍層測厚儀作為一種用于測量材料表面鍍層厚度的關(guān)鍵儀器,備受消費者青睞。今天我們將介紹關(guān)于鍍層測厚儀的詳細信息,并對蘇州鍍層測厚儀的價位進行探討。 ### 鍍層測厚儀的原理與特點 鍍層測厚儀主要采用X射線或磁性傳感器等技術(shù)原理來測量鍍層厚度。X射線鍍層測厚儀
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
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