2024年優(yōu)爾鴻信檢測(cè)能力驗(yàn)證活動(dòng)邀請(qǐng)函

時(shí)間：2024-11-16作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：45

                    --2024年第二十屆能力驗(yàn)證活動(dòng)邀請(qǐng)函 

各相關(guān)單位： 

能力驗(yàn)證是按照預(yù)先制定的準(zhǔn)則，通過實(shí)驗(yàn)室間的比對(duì)，來評(píng)定參加者的能力。對(duì)于實(shí)驗(yàn)室和檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，能力驗(yàn)證是一種有效的外部質(zhì)量控制活動(dòng)，也是內(nèi)部質(zhì)量控制的重要補(bǔ)充。持續(xù)參加能力驗(yàn)證活動(dòng)，不僅可以證明實(shí)驗(yàn)室的檢測(cè)技術(shù)水平，同時(shí)可以增強(qiáng)客戶對(duì)實(shí)驗(yàn)室的信賴度，達(dá)成提高實(shí)驗(yàn)室的質(zhì)量、**度及競(jìng)爭(zhēng)力之目標(biāo)。
富士康科技集團(tuán)優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司系專業(yè)從事檢測(cè)、校準(zhǔn)和能力驗(yàn)證的研究機(jī)構(gòu)。本公司自2005年起持續(xù)開展實(shí)驗(yàn)室間比對(duì)活動(dòng)，自2015年起依據(jù)ISO/IEC 17043《合格評(píng)定能力驗(yàn)證通用要求》組織和實(shí)施能力驗(yàn)證活動(dòng)，于2016年**通過中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可對(duì)于能力驗(yàn)證提供者(PTP)的認(rèn)可（認(rèn)可編號(hào)：PT0053），認(rèn)可覆蓋幾何尺寸、化學(xué)成分分析、塑料材料、電氣性能等多個(gè)領(lǐng)域。 

本公司開展的能力驗(yàn)證和測(cè)量審核結(jié)果可作為實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可及資質(zhì)認(rèn)定評(píng)審機(jī)構(gòu)判定實(shí)驗(yàn)室技術(shù)能力的重要依據(jù)之一，其結(jié)果也可得到**相關(guān)認(rèn)可機(jī)構(gòu)的相互承認(rèn)。2024年本公司舉辦第二十屆能力驗(yàn)證活動(dòng)，繼續(xù)為各實(shí)驗(yàn)室提供一個(gè)技術(shù)交流，能力提升的公益平臺(tái)，歡迎廣大實(shí)驗(yàn)室報(bào)名參加。

2024年能力驗(yàn)證計(jì)劃目錄表



2024年測(cè)量審核目錄表








優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 18971698675

• 詞條

  詞條說明

• PCB板上離子污染的主要來源有哪些，如何預(yù)防？

  主要來源制造過程中的化學(xué)物質(zhì)殘留：在 PCB 板的制造過程中，會(huì)使用多種化學(xué)試劑。例如，在蝕刻環(huán)節(jié)，使用的蝕刻液可能會(huì)殘留在 PCB 板上。如果蝕刻后的清洗不徹底，蝕刻液中的金屬離子（如銅離子）就會(huì)成為離子污染源。另外，在電鍍過程中，電鍍液也可能會(huì)有殘留，其中含有的鎳、金等金屬離子也會(huì)造成污染。助焊劑殘留：在焊接電子元件時(shí)，會(huì)使用助焊劑來提高焊接質(zhì)量。助焊劑通常含有**酸、鹵化物等成分。焊接完成后

• 優(yōu)爾鴻信老化測(cè)試|三綜合試驗(yàn)是什么

  三綜合試驗(yàn)是什么？?三綜合試驗(yàn)設(shè)備可進(jìn)行高溫、低溫、溫度循環(huán)、溫度沖擊、恒溫恒濕、交變濕熱、正弦定頻、正弦掃頻、隨機(jī)振動(dòng)、沖擊、高溫機(jī)械沖擊、低溫機(jī)械沖擊、溫度-沖擊響應(yīng)普、溫度-振動(dòng)、溫度-振動(dòng)-濕度等產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)。

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  電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目?jī)?yōu)爾鴻信，原華南檢測(cè)中心，自建EMC檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，擁有**水準(zhǔn)的儀器設(shè)備，現(xiàn)有深圳測(cè)試場(chǎng)地、武漢測(cè)試場(chǎng)地、煙臺(tái)測(cè)試場(chǎng)地等，包括10m電波暗室、3m電波暗室，743電波暗室等，可以進(jìn)行各種ITE（資訊技術(shù)）類產(chǎn)品的EMC測(cè)試，咨詢132 6674 9144，擁有CNAS實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)，電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目如下：輻射干擾（3m/10m Chamber） EN 55022傳導(dǎo)干擾 EN 55022

• SEM掃描電鏡分析的作用是什么-富士康華南檢測(cè)中心

  SEM掃描電鏡分析的作用是什么？ 材料領(lǐng)域中掃描電鏡分析技術(shù)的作用非常重要，因此被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。 掃描電鏡可以究晶體缺陷產(chǎn)生過程，可觀察金屬材料內(nèi)部原子集結(jié)和邊界移動(dòng)的方式，還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。 編輯:Amanda王莉