SEM掃描電鏡分析的作用是什么-富士康華南檢測中心

時(shí)間：2024-12-23作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：236

SEM掃描電鏡分析的作用是什么？

材料領(lǐng)域中掃描電鏡分析技術(shù)的作用非常重要，因此被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測等方面的研究。
掃描電鏡可以究晶體缺陷產(chǎn)生過程，可觀察金屬材料內(nèi)部原子集結(jié)和邊界移動(dòng)的方式，還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。
編輯:Amanda王莉


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  詞條說明

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