CTLD-1000熱釋光劑量片殘余劑量的評估 (北京瑞輻特輻射測量儀器有限公司) 1、 殘余劑量 殘余劑量是評價熱釋光劑量片性能的一個重要指標(biāo)。GB/T10264-2014個人和環(huán)境監(jiān)測用熱釋光劑量測量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)未專門對探測器殘余劑量性能作出了規(guī)定,本實驗參照標(biāo)準(zhǔn)對劑量計殘余劑量的性能要求進行實驗。標(biāo)準(zhǔn)要求給出對探測閾和響應(yīng)的影響性能。 a.對探測閾的影響 準(zhǔn)備、輻照并讀出10個探測器,輻照的劑量約定真值(C)為0.10Gy〔輻照劑量約定真值對于 P(ALL) 系統(tǒng)應(yīng)約為100mGy對于E(ALL)系統(tǒng)應(yīng)為10 mGy〕。 再準(zhǔn)備并讀出這10個探測器。求出每個探測器的劑量評定值(Ei)、平均劑量評定值(E)及標(biāo)準(zhǔn)偏差(s)。應(yīng)有: tn×s≤H 式中,tn是具有(n-1)個自由度的學(xué)生分布因數(shù)(n為檢驗中使用的探測器的數(shù)目);H為探測閾較 (表1)。 表1、探測閾較大允許限 系統(tǒng)種類 探測閾(H) P(7mg·cm-2) 0.1mSv P(1000mg·cm-2) 0.5mSv E(ALL)(7d) 10μSv E(ALL)(30d) 30μSv 表2給出了殘余劑量對探測閾的影響實驗結(jié)果。 表2、殘余劑量對探測閾的影響結(jié)果 熱釋光劑量片名 稱 型 號 規(guī)格 (mm) tn×s (mSv) LiF:Mg,Ti CTLD-100 4×4×0.8 5.90×10-3 Φ4.5×0.8 1.49×10-2 LiF:Mg,Ti-M CTLD-100M 4×4×0.8 2.12×10-2 Φ4.5×0.8 2.54×10-2 6LiF:Mg,Ti CTLD-600 3×3×0.8 1.39×10-2 7LiF:Mg,Ti CTLD-700 5×5×0.8 3.60×10-3 CaSO4:Dy(Teflon) CTLD-10T Φ5×0.7 5.70×10-3 LiF:Mg,Cu,P(AR) CTLD-1000 4×4×0.8 1.89×10-4 LiF:Mg,Cu,P(GR) CTLD-1000 Φ4.5×0.8 8.80×10-3 6LiF:Mg,Cu,P CTLD-6000 Φ4.5×0.8 1.41×10-2 7LiF:Mg,Cu,p CTLD-7000 Φ4.5×0.8 1.81×10-3 表中結(jié)果表明:探測器殘余劑量對探測閾的影響性能滿足標(biāo)準(zhǔn)中系統(tǒng)種類要求。探測器殘余劑量對探測閾的影響結(jié)果和探測器的靈敏度、一致性有關(guān)。表中探測器本底值(r0)的測量精度約為8%-36%,改善探測器的一致性,提高測量精度,可以減小殘余劑量對探測器的影響性能。 b. 對響應(yīng)的影響 準(zhǔn)備輻照并讀出對探測閾的影響實驗中用過的10個探測器,輻照的劑量約定真值為0.2mGy。 求出每個探測器的讀出值(ri)、平均讀出值()及置信區(qū)間(I)。應(yīng)有: 表3給出了探測器殘余劑量對響應(yīng)的影響實驗結(jié)果 表3、探測器殘余劑量影響結(jié)果 名 稱 型 號 規(guī)格 (mm) LiF:Mg,Ti CTLD-100 4×4×0.8 0.975 1.024 Φ4.5×0.8 0.979 1.022 LiF:Mg,Ti-M CTLD-100M 4×4×0.8 0.978 1.091 Φ4.5×0.8 0.976 1.025 6LiF:Mg,Ti CTLD-600 3×3×0.8 0.976 1.024 7LiF:Mg,Ti CTLD-700 5×5×0.8 0.991 1.009 CaSO4:Dy(Teflon) CTLD-10T Φ5×0.7 0.907 1.089 LiF:Mg,Cu,P(AR) CTLD-1000 4×4×0.8 0.986 1.004 LiF:Mg,Cu,P(GR) CTLD-1000 Φ4.5×0.8 0.979 1.003 6LiF:Mg,Cu,P CTLD-6000 Φ4.5×0.8 0.987 1.023 7LiF:Mg,Cu,p CTLD-7000 Φ4.5×0.8 0.951 1.030 表中結(jié)果表明:探測器殘余劑量對響應(yīng)的影響性能滿足標(biāo)準(zhǔn)的要求。 探測器殘余劑量和探測器的靈敏度一致性有關(guān)。改善探測器的一致性,可以提高探測器殘余劑量對響應(yīng)的影響性能指標(biāo)。殘余劑量對響應(yīng)的影響性能檢驗是將殘余劑量限制在輻照劑量的0.2%以內(nèi)。 2、討論 LiF:Mg,Cu,P熱釋光探測器具有靈敏度高、能量響應(yīng)性好等特點,因而在個人、環(huán)境輻射低劑量測量的領(lǐng)域中倍受人們的關(guān)注,但由于LiF:Mg,Cu,P片狀熱釋光探測器存在靈敏度變化的問題,限制了它的推廣應(yīng)用。國內(nèi)外一些實驗室對此做了大量的研究,其靈敏度下降有所緩和。本實驗室對LiF:Mg,Cu,P的制備工藝及劑量特性做了較為深入的研究,改善了發(fā)光曲線的形狀、減小了低溫峰對劑量測定峰的影響、解決了測定峰后沿偏高的問題,其靈敏度下降的問題得到了進一步的改善。在實驗中觀察到:LiF:Mg,Cu,P、LiF:Mg,Ti和LiF:Mg,Ti-M的衰退現(xiàn)象和發(fā)光曲線的形狀有關(guān)。改善發(fā)光曲線的形狀,采用合適的測量參數(shù)是進一步解決熱釋光探測器衰退的有效方法,本實驗室正在開展這方面的研究工作。 經(jīng)過劑量敏化的LiF:Mg,Ti熱釋光探測器提高了靈敏度,但其本底值加大,采用紫外退火可降低本底值,其效果和紫外光的波長有關(guān)。不同波長的紫外光對不同陷阱內(nèi)電子遷移率不同,235mn紫外光遷移效率較大,而波長290nm的紫外光,對**320℃陷阱內(nèi)的電子遷移率比**320℃的大10倍,利用波長290nm的紫外光對不同陷阱電子遷移作用有選擇的特點,預(yù)期可進一步提高紫外退火的效果。 研制的LiF:Mg,Ti-M熱釋光探測器呈現(xiàn)出較好的劑量學(xué)特性。可望在制備過程中控制探測器的分散性。 建立的β熱釋光探測器制備工藝解決了探測器易變型及靈敏度低和CaSO4熱釋光探測器的成型問題。 熱釋光探測器是一種無源器件,易實現(xiàn)大規(guī)模自動化測量。隨著熱釋光探測技術(shù)的逐步完善,熱釋光探測技術(shù)在臨床劑量學(xué)體內(nèi)劑量分布測量,輻射劑量學(xué)個人、環(huán)境、事故劑量測量等領(lǐng)域中的應(yīng)用,將會起到越來越重要的作用。 為了進一步完善熱釋光探測器的劑量特性,需對其制備工藝及劑量特性做較深入的研究,逐步完善熱釋光探測技術(shù)方法,拓寬其應(yīng)用領(lǐng)域。 3、探測器型號對照表 名 稱 型 號 (北京瑞輻特公司) LiF:Mg,Ti CTLD-100 CTLD-100 CTLD:原型號 CTLD:現(xiàn)型號 CTLD-100M:敏化探測器 LiF:Mg,Ti-M CTLD-100M CTLD-100M 6LiF:Mg,Ti CTLD-600 CTLD-600 7LiF:Mg,Ti CTLD-700 CTLD-700 LiF:Mg,Cu,P CTLD-1000 CTLD-1000 6LiF:Mg,Cu,P CTLD-6000 CTLD-6000 7LiF:Mg,Cu,p CTLD-7000 CTLD-7000
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CTLD-350型熱釋光劑量儀測量的質(zhì)量控制 [摘要] 討論了CTLD-350熱釋光劑量讀出器測量的質(zhì)量控制問題。CTLD-350熱釋光劑量儀中參考光源的光譜應(yīng)與光電倍增管道匹配,光學(xué)系統(tǒng)透射系數(shù)要高而穩(wěn)定,高壓須穩(wěn)定性高,加熱器與探測器要保持良好的熱接觸;探測器應(yīng)經(jīng)過篩選,嚴格控制退火條件,測量參數(shù)要優(yōu)化確定;劑量刻度源的輻射種類和能譜應(yīng)與所測量的盡量一致,并須按照國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求刻度,文中介
CTLD-1000熱釋光劑量片殘余劑量的評估 (北京瑞輻特輻射測量儀器有限公司) 1、 殘余劑量 殘余劑量是評價熱釋光劑量片性能的一個重要指標(biāo)。GB/T10264-2014個人和環(huán)境監(jiān)測用熱釋光劑量測量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)未專門對探測器殘余劑量性能作出了規(guī)定,本實驗參照標(biāo)準(zhǔn)對劑量計殘余劑量的性能要求進行實驗。標(biāo)準(zhǔn)要求給出對探測閾和響應(yīng)的影響性能。 a.對探測閾的影響 準(zhǔn)備、輻照并讀出10個探測器,輻照的劑
CTLD-350型熱釋光劑量儀讀出器劑量刻度方法 北京瑞輻特輻射測量儀器有限公司 概述:熱釋光探測器在讀出器上的讀數(shù)值是一相對值,該結(jié)果轉(zhuǎn)換成劑量值需進行劑量刻度。這里所說的劑量刻度是指要確定待刻度探測器、劑量計對一系列已知輻射值(或刻度標(biāo)準(zhǔn)值)的響應(yīng)或讀數(shù)。 刻度劑量計一般采用標(biāo)準(zhǔn)源或已知輻射場(如輻射場是未知的,可用基準(zhǔn)儀器,次級標(biāo)準(zhǔn)儀器或參考標(biāo)準(zhǔn)儀器測出輻射場中刻度處的劑量率) 來刻度。對
CTLD-250熱釋光劑量儀系統(tǒng)相對靈敏度的實驗
CTLD-250熱釋光劑量儀系統(tǒng)相對靈敏度的實驗 (北京瑞輻特輻射測量儀器有限公司) 1、相對靈敏度 相對靈敏度是評價熱釋光劑量儀系統(tǒng)和熱釋光探測器的一個重要指標(biāo)。在實際使用中,通常是在熱釋光讀出器某一工作狀態(tài)下對探測器進行測量,給出特定條件下的刻度系數(shù)表示其靈敏度。這里所說的相對靈敏度是相對TLD-100(LiF:Mg,Ti)探測器而言。 表1、2給出了幾種熱釋光探測器單位面積、重量的相對靈敏
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