x熒光鍍層測(cè)厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢(shì)

時(shí)間：2022-06-12作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司瀏覽：169

       x熒光鍍層測(cè)厚儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層厚度測(cè)量的要求，且的較具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作較人性化、較方便。
工作原理：
x熒光鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的*二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
x熒光鍍層測(cè)厚儀可應(yīng)用于：
合金分析；鍍層厚度分析；電鍍液金屬離子分析；磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體元素分析；土壤污染元素分析；過(guò)濾器上的薄膜元素分析；塑料中的有毒元素分析。
使用優(yōu)勢(shì)：
1、**高分辨率、**清攝像頭、**便捷操作、**快檢測(cè)速度、**人性化界面；
2、易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結(jié)果；
3、有助于識(shí)別鍍層成分的創(chuàng)新型功能；
4、機(jī)身結(jié)構(gòu)小巧結(jié)實(shí)，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室；
5、按下按鈕的數(shù)秒之內(nèi)，即可得到有關(guān)樣件鍍層厚度的結(jié)果；
6、使用PC機(jī)和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗(yàn)結(jié)果證書(shū)；
7、用戶通過(guò)攝像頭及艙內(nèi)照明系統(tǒng)，可看到樣件測(cè)試位置，提升了用戶測(cè)試信心；
8、有X射線防護(hù)鎖，只有在封閉狀態(tài)下才**X射線，安全、可靠的保證客戶使用。

蘇州實(shí)譜儀器有限公司專(zhuān)注于手持式光譜儀,X熒光光譜儀,rohs檢測(cè)儀器等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 分析X-RAY鍍層測(cè)厚儀的工作原理及特點(diǎn)

  ? ? ? X-RAY鍍層測(cè)厚儀是一種多功能實(shí)用型便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)*的儀器。 X-RAY鍍層測(cè)厚儀的工作原理：? ? ? ?鍍層

• X光鍍層測(cè)厚儀在日常作業(yè)中都應(yīng)用了哪些原理？

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀是一種用于查看物體厚度的儀器儀表。在工業(yè)生產(chǎn)測(cè)厚中廣泛運(yùn)用。這類(lèi)儀器，根據(jù)其測(cè)量辦法的不一樣，大致可以劃分為以下幾個(gè)種類(lèi)：運(yùn)用嶸湎?、馍渚€、y射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；選用超聲波頻率改動(dòng)的超聲波厚度計(jì)以及選用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有電容式厚度計(jì)等。? ? ? 此外，運(yùn)用微波和激光技術(shù)制成厚度計(jì)，現(xiàn)在還處在研

• 有關(guān)x射線鍍層測(cè)厚儀的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，以下有詳細(xì)解說(shuō)

  ? ? ? x射線鍍層測(cè)厚儀采用內(nèi)置探頭一體化設(shè)計(jì)、抗干擾技術(shù)、數(shù)字顯示，具備機(jī)型小巧、操作簡(jiǎn)捷、待機(jī)時(shí)間長(zhǎng)等特點(diǎn)；且具有自動(dòng)關(guān)機(jī)、欠電指示、統(tǒng)計(jì)、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能。它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。x射線鍍層測(cè)厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成如下： 1、

• x射線鍍層測(cè)厚儀在檢測(cè)時(shí)具有什么原理？

  ? ? ?x射線鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測(cè)厚儀的主要測(cè)量方法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱(chēng)重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中**種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多