X光鍍層測厚儀詳細分析功能說明

時間：2022-06-11作者：蘇州實譜儀器有限公司瀏覽：401

     X光鍍層測厚儀綜合性能:鍍層分析、定性分析、定量分析、鍍液分析；
     鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
     鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,*購買標準藥液.
     性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
     光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì).
      X光鍍層測厚儀性能特點及優(yōu)勢： 
      高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動定位測試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求。φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊。鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點，高分辨率探頭使分析結(jié)果較加，微小測試點較。X光鍍層測厚儀優(yōu)勢在于滿足客戶要求的情況下，價格較優(yōu)惠、售后服務(wù)較方便，維護成本較低。
      X光鍍層測厚儀的測量原理：
      物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。X光鍍層測厚儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

蘇州實譜儀器有限公司專注于手持式光譜儀,X熒光光譜儀,rohs檢測儀器等

• 詞條

  詞條說明

• x射線鍍層測厚儀在檢測時具有什么原理？

  ? ? ?x射線鍍層測厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測厚儀的主要測量方法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中**種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多

• X光鍍層測厚儀詳細分析功能說明

  ? ? ?X光鍍層測厚儀綜合性能:鍍層分析、定性分析、定量分析、鍍液分析；? ? ?鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.? ? ?鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,*購買標準藥液.? ? ?

• X光鍍層測厚儀使用性能特點有哪些？

  ? ? ? X光鍍層測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。 X光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的

• x熒光鍍層測厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢

  ? ? ? ?x熒光鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且的較具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計，使儀器操作較人性化、較方便。 工作原理： x熒光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W