X熒光光譜鍍層測厚儀

時(shí)間：2024-09-25作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：2

X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測量。

X熒光光譜鍍層測厚儀配置
01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)
02 微焦斑X光管 
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)
05 Fast-SDD探測器
06 雙激光定位裝置
07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直孔和濾光片



軟件優(yōu)勢
1、清晰化操作界面布局
簡約的布局設(shè)計(jì),讓操作員快速的掌握軟件基本操作。
2、快捷鍵按鈕設(shè)計(jì)
增加了日常鍍層測量快捷鍵設(shè)計(jì)按鈕,可快速檢測,提升工作效率。
3、高清可視化窗口
可清晰直觀的觀測到被檢測樣品的狀態(tài),通過自動(dòng)對(duì)焦、移動(dòng)快捷鍵,調(diào)節(jié)到用戶較理想的觀測效果。
4、多通道數(shù)字譜圖界面
清晰化呈現(xiàn)被檢樣品的元素譜圖,配合**的解譜技術(shù),便可精準(zhǔn)計(jì)算出結(jié)果。
5、測試結(jié)果匯總布局設(shè)計(jì)
可快速查找當(dāng)前測試數(shù)據(jù),并可對(duì)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行報(bào)告生成,且快速查詢以往測試數(shù)據(jù)。
應(yīng)用行業(yè)
航天新能源 
電子通訊 
電鍍行業(yè)
高校及科研院 
貴金屬鍍飾 
磁性材料




江蘇天瑞儀器股份有限公司專注于rohs檢測儀,x射線熒光光譜儀,x射線熒光鍍層測厚儀等, 歡迎致電 13814856624

• 詞條

  詞條說明

• X射線熒光光譜儀是什么？

  X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。 一種射線式

• X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點(diǎn)

  X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數(shù) 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時(shí)受基體的影響小，在地質(zhì)、采礦和冶金等部門應(yīng)用很廣。X射線熒光光譜儀：儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計(jì)。?指標(biāo)信息1、**源是Rh靶X光管，較大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作，真空度<13pasca

• X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

  X射線熒光光譜儀另一方面，化學(xué)元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內(nèi)層電子被激起，則當(dāng)外層電子躍遷時(shí)，就會(huì)放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續(xù)譜。假如激起光源為x射線，則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發(fā)生的進(jìn)程。當(dāng)人射x射線撞擊原子中的電子時(shí)，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會(huì)被擊出。這一互相效果進(jìn)程被稱為光電效應(yīng)，被打出的電子稱為光電子

• X熒光光譜鍍層測厚儀

  X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測量。X熒光光譜鍍層測厚儀配置01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直