電子電氣產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下,內(nèi)部元件(如電路板、電容、芯片等)可能出現(xiàn)哪些故障?如何通過低氣壓測試來提前發(fā)現(xiàn)并預(yù)防這些故障?

    一、可能出現(xiàn)的故障

      電路板方面

      在低氣壓環(huán)境下,電路板可能出現(xiàn)分層故障。由于氣壓降低,電路板內(nèi)部的層間壓力失衡,特別是多層電路板,其內(nèi)部的粘結(jié)材料可能會受到影響。例如,在飛機(jī)上使用的電子設(shè)備,當(dāng)處于高空低氣壓環(huán)境時(shí),電路板層間可能會產(chǎn)生微小的空隙,這會影響信號傳輸,導(dǎo)致信號衰減或干擾。

      焊點(diǎn)也可能出現(xiàn)問題。低氣壓環(huán)境下,焊點(diǎn)處的金屬材料熱膨脹系數(shù)和應(yīng)力分布會發(fā)生變化。長時(shí)間處于這種環(huán)境,焊點(diǎn)可能會出現(xiàn)微裂紋,導(dǎo)致電氣連接不良,使電子設(shè)備出現(xiàn)間歇性故障。

      電容方面

      對于電解電容,低氣壓可能導(dǎo)致電解液的蒸發(fā)速度加快。這是因?yàn)闅鈮航档褪挂后w的沸點(diǎn)也降低,電解液蒸發(fā)會使電容的電容量下降,影響電路的濾波和耦合等功能。同時(shí),電解液的減少還可能導(dǎo)致電容內(nèi)部的等效串聯(lián)電阻增大,使電容發(fā)熱,進(jìn)一步加速電解液的蒸發(fā),甚至可能造成電容的損壞。

      陶瓷電容等非電解電容可能會出現(xiàn)絕緣性能下降的情況。低氣壓使空氣的介電強(qiáng)度降低,電容兩較之間較*發(fā)生放電現(xiàn)象,從而影響電容的正常工作。

      芯片方面

      芯片的封裝可能會受到影響。在低氣壓環(huán)境下,芯片封裝內(nèi)的壓力**外部環(huán)境壓力,可能會導(dǎo)致封裝材料出現(xiàn)變形或破裂。例如,塑料封裝的芯片,其封裝材料可能會出現(xiàn)微小的裂縫,使芯片內(nèi)部的電路暴露在外界環(huán)境中,*受到濕氣、灰塵等污染物的侵蝕,進(jìn)而導(dǎo)致芯片短路或性能下降。


    二、低氣壓測試及預(yù)防措施

      低氣壓測試方法

      采用專業(yè)的低氣壓試驗(yàn)箱進(jìn)行測試。在測試過程中,將電子電氣產(chǎn)品放入試驗(yàn)箱,按照產(chǎn)品可能遇到的實(shí)際低氣壓環(huán)境參數(shù)(如海拔高度對應(yīng)的氣壓值)來設(shè)置試驗(yàn)箱的氣壓。在測試過程中,利用監(jiān)測設(shè)備對產(chǎn)品的關(guān)鍵性能參數(shù)(如電路板的信號完整性、電容的電容量和損耗、芯片的功能等)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測。

      可以進(jìn)行加速壽命測試。通過適當(dāng)提高溫度和降低氣壓的組合條件,模擬產(chǎn)品在較惡劣的低氣壓環(huán)境下長時(shí)間使用的情況,縮短測試周期,以便較快地發(fā)現(xiàn)潛在故障。

      預(yù)防故障的措施

      根據(jù)低氣壓測試結(jié)果,對電路板的設(shè)計(jì)進(jìn)行優(yōu)化。例如,增加電路板層間的粘結(jié)強(qiáng)度,選擇較合適的焊點(diǎn)材料和工藝,減少分層和焊點(diǎn)開裂的風(fēng)險(xiǎn)。

      對于電容,可以選擇密封性較好的電容產(chǎn)品,或者在電容外部增加防護(hù)措施,如密封外殼,以減少電解液蒸發(fā)和外部環(huán)境對電容的影響。

      針對芯片,改進(jìn)芯片封裝設(shè)計(jì),采用較耐壓的封裝材料,或者在芯片周圍增加防護(hù)涂層,防止封裝破裂后污染物對芯片的損害。同時(shí),在產(chǎn)品的使用說明書中,可以明確產(chǎn)品的適用海拔范圍,提醒用戶在不適合的低氣壓環(huán)境下謹(jǐn)慎使用。


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