集成電路(IC)檢測是確保其質(zhì)量和性能的關(guān)鍵步驟,以下是一些常用的檢測方法:
一、外觀檢查
這是較基本的檢測方法。通過肉眼或借助放大鏡來檢查 IC 的引腳是否有彎曲、折斷、氧化等情況。同時(shí),查看芯片表面是否有劃痕、裂紋、污漬或其他物理損壞。對于封裝體,檢查其標(biāo)記是否清晰、完整,確保型號(hào)等信息準(zhǔn)確無誤,因?yàn)闃?biāo)記錯(cuò)誤可能會(huì)導(dǎo)致使用錯(cuò)誤的芯片。
二、功能測試
在線測試(ICT)
這是在電路板上對 IC 進(jìn)行測試的方法。通過向 IC 的引腳施加特定的激勵(lì)信號(hào),如電壓、電流等,然后檢測其輸出信號(hào)是否符合預(yù)期。它可以檢測 IC 的邏輯功能,例如對于一個(gè)邏輯門電路 IC,可以檢查與門、或門等邏輯功能是否正常工作。
這種方法能夠快速篩選出功能明顯異常的 IC,但對于一些軟故障(如在特定復(fù)雜條件下才出現(xiàn)的故障)可能無法有效檢測。
自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)測試
ATE 是專門用于 IC 測試的高精度設(shè)備。它可以對 IC 進(jìn)行全面的功能測試,包括模擬電路部分和數(shù)字電路部分。例如,對于一個(gè)包含模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的 IC,ATE 可以測試其模擬輸入信號(hào)的轉(zhuǎn)換精度、轉(zhuǎn)換速度等參數(shù),以及數(shù)字輸出信號(hào)的正確性。
ATE 測試能夠提供詳細(xì)的測試報(bào)告,準(zhǔn)確地定位 IC 的功能故障點(diǎn),但設(shè)備成本較高。
三、電氣參數(shù)測試
直流參數(shù)測試
主要測量 IC 的直流工作特性,如電源電流、輸入輸出高 / 低電平電壓等。例如,通過測量數(shù)字 IC 的輸入高電平電壓范圍(VIH)和輸入低電平電壓范圍(VIL),可以確定該 IC 能夠正常工作的輸入電壓條件。
交流參數(shù)測試
用于檢測 IC 的動(dòng)態(tài)性能,如信號(hào)傳輸延遲、上升時(shí)間和下降時(shí)間等。對于高速數(shù)字 IC,信號(hào)的傳輸延遲是一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)。通過使用高精度的示波器等設(shè)備,可以測量 IC 引腳間信號(hào)的傳輸延遲,確保其能夠滿足系統(tǒng)的高速運(yùn)行要求。
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公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司
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