高低溫測(cè)試又叫作高低溫循環(huán)測(cè)試,是環(huán)境ke靠性測(cè)試中的一項(xiàng),試驗(yàn)?zāi)康氖窃u(píng)**低溫條件對(duì)裝備在存儲(chǔ)和工作期間的性能影響?;旧纤械漠a(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存,或者工作運(yùn)行。因?yàn)楫a(chǎn)品在制造、搬運(yùn)或儲(chǔ)存應(yīng)用時(shí)會(huì)面臨著各種各樣不同的溫濕度、氣候以及外界條件的等等影響。這些氣候?qū)Ξa(chǎn)品產(chǎn)生物理性質(zhì)及機(jī)械性質(zhì)甚到是化學(xué)性質(zhì)的改變,所以會(huì)令產(chǎn)品失去效果,降di**或生產(chǎn)危險(xiǎn),因此世jie各guo制定了各種產(chǎn)品對(duì)不同產(chǎn)品的測(cè)試規(guī)范,讓買賣雙方間獲得共識(shí),在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、研發(fā)、入料、出貨時(shí)檢驗(yàn),確保品質(zhì)到達(dá)國(guó)家biao準(zhǔn)。
高低溫測(cè)試應(yīng)用領(lǐng)域:
1. 計(jì)算機(jī)類:電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、yi療設(shè)備等jing密儀器等;
2. 電子通信類:手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等;
3. 電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備;
4. 其他:包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等。
高低溫試驗(yàn)方法:
先將箱溫調(diào)到 25 ℃±3 ℃,并保持此值,相對(duì)濕度調(diào)到 45%~75%進(jìn)行2 h~6 h 穩(wěn)定溫度處理。在Z后1 h 內(nèi),將箱內(nèi)相對(duì)濕度提高到不低yu95%,溫度仍保持25 ℃±3 ℃。
穩(wěn)定階段之后循環(huán)開始,使箱溫在2.5 h~3 h 內(nèi)由25 ℃±3 ℃連續(xù)上升到 55 ℃±2 ℃,這期間除Z后15 min 內(nèi)相對(duì)濕度不低yu90%外,升溫階段相對(duì)濕度都不應(yīng)低yu95%,以使試品表面產(chǎn)生凝露,但不得在大型試驗(yàn)樣品上產(chǎn)生過量凝露。然后在溫度為55 ℃±2℃的高溫高濕環(huán)境下保持到從循環(huán)開始算起12 h±0.5 h 止。這一階段的相對(duì)濕度,除Z初和Z后的15 min內(nèi)不低yu90%外,均應(yīng)為(93±3)%。
然后在 3 h~6 h 內(nèi),將箱溫由55 ℃±2 ℃降到 25 ℃±3℃。Z初1.5 h的降溫速率為10℃/h,這期間的相對(duì)濕度除Z初的15 min 內(nèi)不低yu90%外,其他時(shí)間均不低yu95%。
降溫之后,溫度保持 25 ℃±3 ℃,相對(duì)濕度不低yu 95%,從循環(huán)開始算起24 h 為一周期。
高低溫測(cè)試檢測(cè)項(xiàng)目及biao準(zhǔn):
1. 高溫試驗(yàn)
高溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。
參考的測(cè)試biao準(zhǔn):GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2、IEIA 364、MIL-STD-810F等。
2. 低溫試驗(yàn)
低溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。
參考的測(cè)試biao準(zhǔn):GB/T 2423.1、IEC 60068-2-1、EIA 364、MIL-STD-810F等。
3. 溫度沖擊試驗(yàn)
溫度沖擊試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時(shí)間、循環(huán)數(shù)。
參考的測(cè)試biao準(zhǔn):IEC60068-2-14、GB2423.22、GJB150.5等
4. 快速溫變?cè)囼?yàn)
快速溫變?cè)囼?yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。
試驗(yàn)過程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個(gè)循環(huán),溫度循環(huán)試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度是以高/低溫度范圍、停留時(shí)間以及循環(huán)數(shù)來決定的。
參考的測(cè)試biao準(zhǔn):GB/T 2423.34、IEC 60068-2-38、JB150.5等。
5.交變濕熱試驗(yàn)
高低溫交變濕熱試驗(yàn)是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域bi備的測(cè)試項(xiàng)目,用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。測(cè)試參考biao準(zhǔn):GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GB/T 2423.3、GB/T 2423.4。
值得注意的是IC芯片高低溫測(cè)試是模擬環(huán)境的試驗(yàn)箱,在使用時(shí),試驗(yàn)箱內(nèi)可能會(huì)有各種較端的環(huán)境,例如較低溫、高溫高壓、高溫高濕等特殊條件。在半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試運(yùn)行中途,若沒有fei常必要打開試驗(yàn)箱門,請(qǐng)勿打開試驗(yàn)線門,如果須要使用中途打開試驗(yàn)箱門,那么請(qǐng)一定做好相關(guān)的防護(hù)措施,用正確的方法打開試驗(yàn)箱門。
詞條
詞條說明
砂塵試驗(yàn)箱、IEC60068、MIL-STD-810F、GJB150A
產(chǎn)品名稱:砂塵試驗(yàn)箱 產(chǎn)品型號(hào): 產(chǎn)品性能: ?? 砂塵試驗(yàn)箱用來模擬自然界的砂塵環(huán)境,適用于檢驗(yàn)所**械、光學(xué)、電氣、電子、電化學(xué)和機(jī)電裝置對(duì)砂塵的適應(yīng)能力。砂塵試驗(yàn)用來評(píng)價(jià)裝備對(duì)可能阻塞開口,滲入裂縫、軸承和接頭的灰塵抵御能力,評(píng)價(jià)過濾裝置的工作效能以及評(píng)價(jià)裝備是否能在吹砂條件下貯存和工作。 ?? 備注:內(nèi)部尺寸大小均可根據(jù)要求進(jìn)行設(shè)計(jì)。 ?
半導(dǎo)體元器件在高溫環(huán)境下的ke靠性是制造商和用戶10分關(guān)注的問題。高溫試驗(yàn)是一種常用的測(cè)試方法,通過模擬實(shí)際使用中的高溫環(huán)境,可以評(píng)估元器件在高溫下的性能和ke靠性。高溫試驗(yàn)需要仔細(xì)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案,包括選擇合適的測(cè)試設(shè)備、制定測(cè)試流程和確定測(cè)試參數(shù)等。在實(shí)驗(yàn)過程中,需要確保測(cè)試設(shè)備和環(huán)境的穩(wěn)定性和ke靠性,以保證測(cè)試結(jié)果的zhun確性和可重復(fù)性。高溫試驗(yàn)通常使用恒溫爐或烤箱等設(shè)備,將器件置于其中,并
Lab Companion高低溫試驗(yàn)箱走進(jìn)*大學(xué)
同心同德同舟楫,濟(jì)人濟(jì)事濟(jì)!*大*史悠久、聲譽(yù)**,是ZGzui早的國(guó)立大學(xué)之一,是jiaoyubu直屬并與上海市共建的國(guó)內(nèi)重dian大學(xué)。經(jīng)過115年的發(fā)展,*大學(xué)已經(jīng)成為一所特色鮮明、在海內(nèi)外有較大影響力的綜合性、研究型、guoji化大學(xué),綜合實(shí)力國(guó)內(nèi)高校**。學(xué)校始于1907年德國(guó)醫(yī)生埃里希?寶隆在中德兩國(guó)fu和shehui各界支持下創(chuàng)辦的*德文醫(yī)學(xué)堂。1912年與創(chuàng)辦不久的*德文
冷熱沖擊二箱試驗(yàn)箱 型號(hào) AZTS 27 2T AZTS 84 2T AZTS 157 2T AZTS 320 2T AZTS 500 2T AZTS 1000 2T 電源 交流380V 50赫茲 3相+N+PE 較大電流 25 31 39 46 67 84 最大功率 12.5 16 22 25.5 37 47.5 使用環(huán)境溫/濕度 +15~+35℃/≤85%RH 形式 兩廂式 提籃運(yùn)動(dòng)方向 垂直
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