無損檢測分析 工程檢查/無損檢測無損檢測是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下,對被檢驗部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進行檢查的一種測試手段。 ? 無損檢測方法 常用的無損檢測方法有:X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著色探傷等方法。 ? 無損檢測目地 通過對產(chǎn)品內(nèi)部缺陷進行檢測對產(chǎn)品從以下方面進行改進。 1、改進制造工藝; 2、降低制造成本; 3、提高產(chǎn)品的可靠性; 4、保證設(shè)備的安全運行。 無損檢測項目 1:超聲波檢測 超聲波檢測的基本原理 超聲波檢測是利用超聲能透入金屬材料的深處,并由一截面進入另一截面時,在界面邊緣發(fā)生反射的特點來檢查零件缺陷的一種方法,當超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部,遇到缺陷與零件底面時就分別發(fā)生反射波來,在螢光屏上形成脈沖波形,根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。 超聲波檢測的主要特性 1、超聲波在介質(zhì)中傳播時,在不同質(zhì)界面上具有反射的特性,如遇到缺陷,缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長時,則超聲波在缺陷上反射回來,檢測儀可將反射波顯示出來;如缺陷的尺寸甚至小于波長時,聲波將繞過射線而不能反射; 2、波聲的方向性好,頻率越高,方向性越好,以很窄的波束向介質(zhì)中輻射,易于確定缺陷的位置。 3、超聲波的傳播能量大,如頻率為1MHZ(100赫茲)的**生波所傳播的能量,相當于振幅相同而頻率為1000HZ(赫茲)的聲波的100萬倍。 **生波檢測板厚14毫米時,距離波幅曲線上三條主要曲線的關(guān)系 測長線 Ф1 х 6 -12dB 定量線 Ф1 х 6 -6dB 判度線 Ф1 х 6 -2dB? 2:射線檢測 射線檢測原理:射線檢測是利用 X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時強度衰減的不同,檢測被檢物中缺陷的一種無損檢測方法。 特點特色 射線照相法能較直觀地顯示工件內(nèi)部缺陷的大小和形狀,因而易于判定缺陷的性質(zhì),射線底片可作為檢驗的原始記錄供多方研究并作長期保存。但這種方法耗用的X射線膠片等器材費用較高,檢驗速度較慢,只宜探查氣孔、夾渣、縮孔、疏松等體積性缺陷,而不易發(fā)現(xiàn)間隙很小的裂紋和未熔合等缺陷以及鍛件和管、棒等型材的內(nèi)部分層性缺陷。此外,射線對人體有害,需要采取適當?shù)姆雷o措施。 3:磁粉檢測 磁粉檢測原理:磁粉檢測是用來檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷的一種檢測方法。當工件磁化時,若工件表面有缺陷存在,由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁,形成局部磁場,磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置,從而判斷缺陷的存在。 磁粉檢測種類 1、按工件磁化方向的不同,可分為周向磁化法、縱向磁化法、復合磁化法和旋轉(zhuǎn)磁化法。 2、按采用磁化電流的不同可分為:直流磁化法、半波直流磁化法、和交流磁化法。 3、按檢測所采用磁粉的配制不同,可分為干粉法和濕粉法。 4:滲透檢測 1、著色(滲透)檢測的基本原理 著色(滲透)檢測的基本原理是利用毛細現(xiàn)象使?jié)B透液滲入缺陷,經(jīng)清洗使表面滲透液支除,而缺陷中的滲透殘留,再利用顯像劑的毛細管作用吸附出缺陷中殘留滲透液而達到檢驗缺陷的目的。 2、著色(滲透)檢測靈敏度的主要因素 1、滲透劑的性能的影響。 2、乳化劑的乳化效果的影響。 3、顯像劑性能的影響。 4、操作方法的影響。 5、缺陷本身性質(zhì)的影響。 芯片開封實驗室介紹,能夠依據(jù)**、國內(nèi)和行業(yè)標準實施檢測工作,開展從底層芯片到實際產(chǎn)品,從物理到邏輯全面的檢測工作,提供芯片預處理、側(cè)信道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環(huán)境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、放射線注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性和多點激光注入等安全檢測服務(wù),同時可開展模擬重現(xiàn)智能產(chǎn)品失效的現(xiàn)象,找出失效原因的失效分析檢測服務(wù),主要包括點針工作站(Probe Station)、反應(yīng)離子刻蝕(RIE)、微漏電偵測系統(tǒng)(EMMI)、X-Ray檢測,缺陷切割觀察系統(tǒng)(FIB系統(tǒng))等檢測試驗。實現(xiàn)對智能產(chǎn)品質(zhì)量的評估及分析,為智能裝備產(chǎn)品的芯片、嵌入式軟件以及應(yīng)用提供質(zhì)量保證。 ? 無損檢測服務(wù)流程 客戶檢測要求───快速:辦公室人員回復咨詢,必要時,組織各科室技術(shù)及工程師參與 。 填寫申請表───規(guī)范:準確填寫申請表、簽訂檢測協(xié)議,完成檢測前準備工作。 進行試驗檢測───準備:嚴格遵守各科室操作規(guī)范對樣品進行檢測 。 簽發(fā)檢測報告───負責:嚴格遵守報告審核程序,保證數(shù)據(jù)的準確。 存檔、留樣───服務(wù):對客戶建檔,針對檢測需求,進行持續(xù)跟蹤,以客戶需求為己任。
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科研測試補貼90% 附申請鏈接 半導體元器件失效分析可靠性測試 今天 在北京地區(qū)注冊,具有獨立法人資格,在職正式職工不多于100人,營業(yè)收入1000萬元以下,注冊資金不**2000萬元,具有健全的財務(wù)機構(gòu),管理規(guī)范,無不良誠信記錄; 每年度符合補貼要求的業(yè)務(wù)合同金額 10萬元及以下的部分按照較高不**過90%的比例核定; **過10萬元至50萬元的部分按照較高不**過60%的比例核定; **過50萬元至1
半導體技術(shù)公益課:有需要線上分享可以安排時間講您擅長的領(lǐng)域,半導體相關(guān)的都歡迎,話題 時長不限 名稱:半導體技術(shù)公益課講師征集 時間:每周五下午5-7點 時長:不限 方式:直播分享 演講者可以準備ppt,發(fā)來題目,框架,時長,個人簡介,協(xié)調(diào)好時間后即可安排。 想做線上分享的,可以聊您擅長的領(lǐng)域,半導體相關(guān)的都歡迎,話題,時長不限 IC失效分析實驗室 北軟檢測智能產(chǎn)品檢測實驗室于2015年底實施運營
掃描電鏡(SEM) 服務(wù)介紹:SEM/EDX(形貌觀測、成分分析)掃描電鏡(SEM)可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長和強度實現(xiàn)的,根據(jù)不同元素特征X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結(jié)合電子顯微鏡(SEM)使用,可以對樣品進行微區(qū)成分分析。 服務(wù)范圍:**,航天,半導體,**
莊子有言:“一日之錘日取其半,萬世不竭”。這句話的意思是指一尺的東西今天取其一半,明天取其一半的一半,后天再取其一半的一半的一半,總有一半留下,所以永遠也取不盡,這體現(xiàn)了物質(zhì)是無限可分的思想。魏少軍教授講到,半導體和芯片的發(fā)展,恰好就是按照這樣一半一半的往下縮小,而且縮小的過程到現(xiàn)在為止還沒有停止。 但是,縮小過程當中必須按照某種規(guī)則來進行,也就是要按照規(guī)矩,沒有規(guī)矩,那就不能成方圓。這就印證了孟
公司名: 儀準科技(北京)有限公司
聯(lián)系人: 趙
電 話: 01082825511-869
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地 址: 北京海淀中關(guān)村東升科技園
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