深圳維爾克斯專業(yè)代理的激光光束,其輪廓的強度分布是激光分析中的一個重要參數(shù),它將決定激光束在其應(yīng)用過程中的性能表現(xiàn)如何,在特定的設(shè)置之下,也將會決定整個激光系統(tǒng)的性能。激光在真空中傳播時,會沿著其傳播路徑產(chǎn)生不同的寬度和強度分布,這種現(xiàn)象是根據(jù)激光諧振腔,發(fā)散的程度,與光學(xué)元件的相互作用以及電子激光器的特性而不斷變化的。盡管現(xiàn)有的理論已經(jīng)能準(zhǔn)確的預(yù)測到激光傳播的真實情況,但是對于專業(yè)的研究人員和激光廠商來說,準(zhǔn)確的測量光束輪廓的強度是非常重要的。
激光光束寬度的定義
通常情況下,激光光束寬度定義為:光束強度為其峰值的1/e2(13.5%)時所對應(yīng)的寬度尺寸。該值是通過測定高斯光而得出的,并準(zhǔn)確地描述了在TEM00模型下激光器的光束分布。大部分激光器發(fā)出的基本上都是高斯光,因此這種簡單定義方法在行業(yè)中普遍接受。
在IS011146標(biāo)準(zhǔn)中,為光束寬度下了一個較為準(zhǔn)確的定義,該標(biāo)準(zhǔn)定義以功率密度分布的中心二階矩為基礎(chǔ),光束橫截面上功率密度分布的范圍就是光束寬度。二階矩的點是從原始強度數(shù)據(jù)計算得出的值,它對噪聲非常的敏感。還有一種測量光束寬度的方法,可以對光束積分計算出,不會因為噪聲問題而影響測量結(jié)果,這種方法被稱之為刀口法。
光束寬度測量技術(shù)
光束輪廓測量儀器主要有四種類型:相機型光斑分析儀,刀口型光斑分析儀,狹縫掃描型光束質(zhì)量分析儀和針孔掃描型光斑分析儀,每一種都有其各自的優(yōu)點和缺點。以色列Duma推出了*五種類型,這種新的測試方法結(jié)合了刀口技術(shù)和相機系統(tǒng)。不同的測量方法得出的結(jié)果也略有不同,根據(jù)以往的測試經(jīng)驗,與CMOS技術(shù)相比,使用CCD光束輪廓儀,測量脈沖激光束的較準(zhǔn)確;使用刀口技術(shù)時,尤其是與斷層圖像重建程序搭配使用時,測量連續(xù)激光束較準(zhǔn)確。
相機型光斑分析儀
相機型光斑分析儀使用二維陣列,可以即時的記錄,并且顯示激光束強度的分布。它會逐點地記錄激光束的強度分布,并將生成的圖像傳入到電腦上,在軟件上就可以呈現(xiàn)一個3維的光束輪廓圖像。連續(xù)波和脈沖激光束均可用相機型光斑分析儀進行測量。但是這類儀器的通病是,它們在測量時分辨率受到像素大小的限制(5-10um),所以不能夠測量寬度小于60um的光束。
新型的相機型光斑分析儀MicroBeam,通過校準(zhǔn)的方法將激光束放大到100倍來克服像素大小的限制,可以對直徑小于0.5um的光束進行輪廓分析,但也同時將輸入的較大光束直徑限制在50um以內(nèi)。
經(jīng)磷鍍層的CCD光束輪廓儀,所能測量光束的尺寸甚至能達到1550nm。例如BeamOn HR高分辨率光斑測試儀配有內(nèi)置的電動切換衰減片,如下圖所示。
刀口型光斑分析儀
該儀器通過刀口的機械型移動,掃過光束,從而刀口在光束之間移動時會遮擋到探測器接受的激光能量,然后結(jié)合刀口的移動速度及探測器接收到的能量數(shù)據(jù)來計算光束的輪廓。與其他刀口型測量系統(tǒng)有所不同,我們的掃描技術(shù)使用了多個刀口,每個刀口都有其*有的移動軌跡,來掃過光束,每個刀口將產(chǎn)生與其掃描方向相對應(yīng)的輪廓。使用斷層攝影算法對掃描后的各輪廓進行數(shù)據(jù)處理,以生成類似于CCD相機產(chǎn)生的圖像分布。
眾所周知,刀口型掃描系統(tǒng)的測量結(jié)果非常精確,其測量能力可低至幾微米,較高可達幾毫米,靈敏度范圍在190nm-2700nm之間。
刀口型光斑分析儀的深度掃描
刀口型光斑分析儀有一個很大的孔徑,可以使整個激光束通過,在孔徑的上面有一個鋒利的刀口。當(dāng)孔徑掃過光束時,系統(tǒng)會測量未被刀口阻擋的光束部分,并繪制出入射前的光束功率與通過孔徑之后光束功率的差值。當(dāng)?shù)犊趻哌^光束時,該系統(tǒng)會估算出光束大小,并且對光束進行8000次的采樣收集,然后對其進行進一步的處理,無論光束大小如何,每個剖面都能得到大約1000個有用的點。微米范圍下,光束采樣的分辨率較低,這種自動縮放的程序精度很高。
斷層掃描技術(shù)
如上所述,狹縫掃描型光束質(zhì)量分析儀和刀口型光斑分析儀,都無法對激光束輪廓實現(xiàn)準(zhǔn)確的3D重建。但是,可以應(yīng)用斷層掃描技術(shù)(這與用MRI和CAT掃描儀制作內(nèi)臟的3D圖像是同一種技術(shù))來進行合理的近似計算。制作3D圖像的關(guān)鍵,就是要盡可能多得在不同方向上來掃描光束,為了能夠有效的層析成像分析,需要至少從三個不同方向進行掃描,如果從10個或10個以上的不同方向進行掃描,那重建出來的3D圖像將會與真實情況非常接近。
斷層掃描技術(shù)是以色列DUMA公司*有的**技術(shù),不同于一般的刀口型光束分析儀,結(jié)合了斷層掃描技術(shù)的光束分析儀軟件能夠大大提高光束質(zhì)量測量的精度和穩(wěn)定性。
現(xiàn)如今,利用激光對材料進行加工處理的新應(yīng)用越來越多,特別是光纖激光技術(shù)在輸出功率和光束質(zhì)量方面**了巨大進步。從紙面上的理論研究到千瓦功率光纖激光器的實物問世,并且已經(jīng)應(yīng)用到了各種加工領(lǐng)域當(dāng)中,例如切割,焊接,燒蝕等。光纖激光器的優(yōu)點是功率大、機械穩(wěn)定性好、光束質(zhì)量好。但是,光束質(zhì)量和光束輪廓必須要定期的檢測。
一般情況下,檢測這種大功率激光的光束質(zhì)量會存在很多的困難,特別是在密度**過50KWatt/cm2的焦點處。一方面是,光束的能量太大會使材料熔化或打壞材料,另一方面,測量聚焦輪廓是重要的測量方法。
在高分辨率,高靈敏度的光束采樣領(lǐng)域已經(jīng)**了較新的研究進展。一些**的光束采樣器可以在不失真的情況下采樣大約100000個,同時保留原光束的偏振性。下圖是汽車行業(yè)利用激光焊接生產(chǎn)線的典型應(yīng)用。
詞條
詞條說明
光學(xué)成像平臺系統(tǒng)用于工業(yè)分類撿取塑料
我們生活中經(jīng)常使用塑料,當(dāng)我們用完把它扔掉后,它們流向哪里呢?大部分塑料都在填埋場或焚化爐中結(jié)束,沒有回收環(huán)節(jié),有一小部分塑料會回收,但是想要分離可回收和不可回收的塑料非常耗時耗力!安全,快速,干凈的分離塑料增加回收量對于環(huán)保來說非常有意義,可以大幅度的減少大氣中的化學(xué)污染,但是目前通過顏色可視化或者人工智能機器或者人工分揀來說效益較低,所以一般通過標(biāo)記塑料樹脂以進行籠統(tǒng)的識別(參見下圖1),但這
正常色散光纖中產(chǎn)生白光**連續(xù)譜使用原始多波長泵浦系統(tǒng)
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350-1750nm**連續(xù)譜激光**次用于SHG工藝的光纖
LEUKOS**在光纖中使用SHG工藝。泵浦源是一個簡單的亞納秒微芯片激光器產(chǎn)生350-1750nm**連續(xù)譜激光的方法。該實驗設(shè)計了一種非常緊湊且具有成本效益的白光源,因此在許多應(yīng)用中都能很方便使用到,為非線性微結(jié)構(gòu)光纖的多波長泵浦開辟了新的前景。例如Leukos的SAMBA,Indus,New Wave型號的**連續(xù)譜激光器。LEUKOS發(fā)表的這篇文章的中文標(biāo)題可以翻譯為:SHG誘導(dǎo)的調(diào)制不穩(wěn)定性
在半導(dǎo)體行業(yè)中,較小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題,這會降低產(chǎn)量并耗費生產(chǎn)的時間和成本。因此,檢測半導(dǎo)體晶圓表面的缺陷和污染至關(guān)重要,這是在半導(dǎo)體計量行業(yè)許多客戶面臨的挑戰(zhàn)。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷,通常在深紫外(DUV)波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中,Holoor指出當(dāng)線沿徑向掃描時,晶圓旋轉(zhuǎn),產(chǎn)生晶圓的大面積采樣,從而
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