Thorlabs雙折射顯微鏡成像系統(tǒng)LCC7201

    天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷美國Thorlabs雙折射顯微鏡成像系統(tǒng)LCC7201

    產(chǎn)品型號:LCC7201

    關(guān)鍵字:Thorlabs雙折射顯微鏡成像系統(tǒng)LCC7201

    關(guān)鍵字描述:

    產(chǎn)品介紹:

    平坦樣品中的延遲度和方位角(快速軸方向)的測量

    <15 s內(nèi)測量直徑20mm的視場

    包括三個用于直徑0.5英寸,直徑1英寸和2英寸x 2英寸光學(xué)元件的樣品架

    LCC7201雙折射成像系統(tǒng)用于學(xué)術(shù)研究、醫(yī)療診斷、工業(yè)制造和產(chǎn)品質(zhì)量保證,可以測量晶體和液晶設(shè)備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角,非常適合檢測由應(yīng)力引起的雙折射特性。由于該系統(tǒng)基于液晶器件,其內(nèi)部沒有相對機(jī)械運(yùn)動,從而在運(yùn)行過程中非常穩(wěn)定,毫無振動干擾。LCC7201工作的波長為633 nm,提供直徑20 mm的視場。該系統(tǒng)所測相位延遲范圍為半波長(max.316 nm),方位角范圍為±90°。此外,還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。

    參數(shù):

    光源波長633 nm

    延遲測量范圍

    標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍:0至316 nm

    低延遲范圍:0至100 nm

    方位角測量范圍±90°

    延遲測量

    精度標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍:<±10 nm

    低延遲范圍:<±1 nm

    方位角測量精度

    標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍:<±3°

    低延遲范圍:<±1°

    測量速率<15 s

    視場直徑20mm

    空間分辨率9.77μm

    接口USB 2.0和千兆以太網(wǎng)

    相機(jī)分辨率2048 x 2048像素

    尺寸500.0 mm(D)x 360.0 mm(W)x 672.0 mm(H)

    重量26 kg(57.3 lbs)

    工作溫度0至40°C

    儲存溫度-15至65°C

    隨附的配件筆記本電腦,樣品架,雙折射分辨率目標(biāo)(Item R2L2S1B)

     

     

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