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詞條說明
利用X射線穿透被測材料時,X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。針對檢測樣本的不同種類,可在下列3種型號中進(jìn)行選擇。測量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、**薄薄膜的型號,能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號,適合對陶瓷芯片電極部分中,過去難以同時測量的Sn/Ni兩層進(jìn)行高能測量的型號。 兼顧易
X射線熒光光譜儀的原理是通過X射線照射樣品激發(fā)產(chǎn)生熒光,通過半導(dǎo)體檢測器收集**的熒光信息并通過計算機(jī)進(jìn)行處理,就能得出待測樣品的各種元素的含量。X射線熒光分析技術(shù)可以解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對復(fù)雜成份、材料中元素的快速、準(zhǔn)確分析。也可以用于ROHS六大有害物質(zhì)測試和塑料中鹵素的檢測,銅合金元素成分分析及金屬鍍層厚度測試等。 X射線熒光光譜儀的原理是利用低能X光激發(fā)待測元素,對Si、S、Al、
X射線測厚儀是檢測電鍍層厚度的儀器,通常x射線測厚儀被廣泛應(yīng)用于電鍍廠,五金廠,汽車零部件,PCB加工,電子連接件等行業(yè)。X射線測厚儀又叫膜厚儀,測膜儀,鍍層測試儀,x射線鍍層測厚儀,金屬測厚儀,xrf測厚儀,x-ray測厚儀,x熒光光譜鍍層測厚儀等。那么如何校正? 使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校正是x射線測厚儀的正確方法,標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校
無損檢測之涂鍍層測厚儀的故障主要有示值顯示不穩(wěn)定、誤差較大、不顯示數(shù)值等。引起這些故障的原因有來自儀器本身的也有來自被測工件的,還有就是來自自然環(huán)境的影響,下面我們介紹一下排除這些故障的方法。 示值顯示不穩(wěn)定 導(dǎo)致涂鍍測厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性,比如工件本身是否為導(dǎo)磁性材料,如果是導(dǎo)磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測厚儀,如果工件為導(dǎo)電體,我們就得選擇渦流涂鍍
公司名: 蘇州百測檢測科技有限公司
聯(lián)系人: 孫經(jīng)理
電 話: 0512-36600406
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微 信: 15306138389
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