FTIR紅外光譜圖分析方法
FTIR紅外光譜譜圖比對分析有現(xiàn)成紅外譜圖庫參考,通過相似度、譜圖重疊程度綜合判定。 但是也會面臨標(biāo)準(zhǔn)譜庫檢索導(dǎo)致的誤判 需要足夠多的化學(xué)分析、材料研發(fā)經(jīng)驗來支撐 優(yōu)爾鴻信,自1996年建立紅外光譜實驗室,并將實驗室研發(fā)技術(shù),導(dǎo)入到*生產(chǎn)中,幫助解決問題,積累一些經(jīng)驗。
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詞條說明
金屬材料晶粒尺寸檢測有哪些常用方法?它們的精度和適用范圍分別是怎樣的?
光學(xué)顯微鏡法原理和操作:這是較基本的方法。通過對金屬材料進行適當(dāng)?shù)慕鹣嘀苽洌ㄈ缜懈?、研磨、拋光和腐蝕),使晶粒邊界顯現(xiàn)出來,然后在光學(xué)顯微鏡下觀察。利用顯微鏡的放大功能,可以直接測量晶粒的尺寸。精度:精度相對較低,一般可以精確到微米級別。例如,對于晶粒尺寸在 10 - 100 微米的材料,能夠得到比較準(zhǔn)確的測量結(jié)果,但對于亞微米級別的晶粒,測量就比較困難。適用范圍:適用于晶粒尺寸較大(通常大于 1
優(yōu)爾鴻信檢測|電子電氣產(chǎn)品耐化學(xué)試劑檢測方法
電子電氣產(chǎn)品耐化學(xué)試劑檢測是確保產(chǎn)品質(zhì)量和安全性的重要環(huán)節(jié)。以下是一些常見的檢測方法:一、浸泡法這是較基本的檢測方式。將電子電氣產(chǎn)品的樣品或其零部件完全浸泡在特定的化學(xué)試劑中。浸泡的時間和溫度需要根據(jù)產(chǎn)品的使用環(huán)境和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。例如,對于一些可能接觸到酸性清潔劑的電子設(shè)備外殼,會將其浸泡在一定濃度的酸性試劑(如 pH 值為 3 - 4 的醋酸溶液)中 24 - 48 小時,溫度控制在 23℃±
優(yōu)爾鴻信檢測|IC (集成電路)檢測的常用方法有哪些?
集成電路(IC)檢測是確保其質(zhì)量和性能的關(guān)鍵步驟,以下是一些常用的檢測方法:一、外觀檢查這是較基本的檢測方法。通過肉眼或借助放大鏡來檢查 IC 的引腳是否有彎曲、折斷、氧化等情況。同時,查看芯片表面是否有劃痕、裂紋、污漬或其他物理損壞。對于封裝體,檢查其標(biāo)記是否清晰、完整,確保型號等信息準(zhǔn)確無誤,因為標(biāo)記錯誤可能會導(dǎo)致使用錯誤的芯片。二、功能測試在線測試(ICT)這是在電路板上對 IC 進行測試的
什么是表面粗糙度?表面粗糙度,surface roughness,用來表征加工件表面光滑程度、微觀幾何形狀公差的參數(shù)。表面粗糙度,指加工表面具有的較小間距和微小峰谷的不平度,其兩波峰或兩波谷之間的距離(波距)很小,在1mm以下。優(yōu)爾鴻信,總部深圳,位于富士康華南檢測中心,擁有大型超精密量測實驗室,提供輪廓度測量、3D幾何尺寸、逆向抄數(shù)設(shè)計、形位公差測量等實驗室服務(wù)。編輯: Amanda王莉
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司
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